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一种测量双波长激光波长和线宽的装置及方法
申请人信息
- 申请人:同济大学; 北京遥测技术研究所
- 申请人地址:200092 上海市杨浦区四平路1239号
- 发明人: 同济大学; 北京遥测技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测量双波长激光波长和线宽的装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311552504.X |
| 申请日 | 2023/11/21 |
| 公告号 | CN117664525A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 同济大学; 北京遥测技术研究所 |
| 发明人 | 马彬; 颜冬月; 赵一鸣; 李静; 王占山; 沈正祥; 何春伶; 潘俏菲 |
| 地址 | 上海市杨浦区四平路1239号; 北京市丰台区南大红门路1号 |
摘要文本
本发明涉及一种测量双波长激光波长和线宽的装置及方法，所述装置包括待测双波长激光器、两个中性密度衰减片组转轮、两个近红外衰减片组转轮、两个双波长反射镜、两个快门、双波长分光镜、窄带滤光片转轮、消色差透镜、双波长单模光纤、光谱仪、谐波分束器、两个可变光阑和两个基准激光器。与现有技术相比，本发明可切换滤光模式，实现对双波长激光波长和线宽的自动测量，具有测量效率高、可重复性好以及操作简便等优点。 来源：马 克 团 队
专利主权项内容
1.一种测量双波长激光波长和线宽的装置，其特征在于，包括待测双波长激光器(001)、第一基准激光器(101)和第二基准激光器(102)，所述待测双波长激光器(001)输出的光束依次通过第一中性密度衰减片组转轮(002)和第一近红外衰减片组转轮(003)，经第一双波长反射镜(004)反射后，进入双波长分光镜(006)；所述第一基准激光器(101)输出的光束经过第二双波长反射镜(103)反射后，与所述第二基准激光器(102)输出的光束通过谐波分束器(104)进入所述双波长分光镜(006)；所述双波长分光镜(006)后依次设置第一可变光阑(201)、第二中性密度衰减片组转轮(007)、第二近红外衰减片组转轮(008)、第二可变光阑(202)、窄带滤光片转轮(009)和消色差透镜(010)，所述消色差透镜(010)通过双波长单模光纤(012)与光谱仪(013)相连；所述谐波分束器(104)和所述双波长分光镜(006)之间设置第二快门(105)，所述第一双波长反射镜(004)和所述双波长分光镜(006)之间设置第一快门(005)。