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一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置及方法

申请号: CN202311552509.2
申请人: 同济大学
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置及方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311552509.2
申请日 2023/11/21
公告号 CN117723268A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G01M11/02
权利人 同济大学
发明人 马彬; 潘俏菲; 王占山; 沈正祥; 颜冬月; 何春伶; 郑湘粤
地址 上海市杨浦区四平路1239号

摘要文本

本发明涉及一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置及方法,装置包括He‑Ne激光器、光学斩波器、光束质量分析仪、光电二极管、示波器和数字信号延时发生器,He‑Ne激光器发射出连续激光形成光路,光路上依次设有光学斩波器和光束质量分析仪,示波器与光电二极管相连,光电二极管朝向光束质量分析仪,示波器和数字信号延时发生器连接;激光穿过光学斩波器形成脉冲激光,示波器与数字信号延时发生器协同实现信号触发同步,脉冲激光照射在光束质量分析仪上成像光斑,基于光斑数据计算,得到激光抖动性参数。与现有技术相比,本发明光斑信号触发同步,可获得不同脉宽频率的激光,可获得与连续激光一致的测量结果,实现系统抖动测量与校准。

专利主权项内容

1.一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置,其特征在于,包括He-Ne激光器、光学斩波器、光束质量分析仪、光电二极管、示波器和数字信号延时发生器,所述He-Ne激光器发射出连续激光形成光路,所述光路上依次设有光学斩波器和光束质量分析仪,所述示波器与光电二极管相连接,所述光电二极管朝向光束质量分析仪,所述数字信号延时发生器和示波器、光束质量分析仪分别相连;所述激光穿过光学斩波器形成脉冲激光,所述脉冲激光照射在光束质量分析仪上形成成像光斑,采集光斑数据,基于光斑数据进行分析计算,得到激光的抖动性参数,所述示波器与数字信号延时发生器辅助光束质量分析仪实现信号触发同步。。 (更多数据,详见马克数据网)