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一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法
申请人信息
- 申请人:同济大学; 北京遥测技术研究所
- 申请人地址:200092 上海市杨浦区四平路1239号
- 发明人: 同济大学; 北京遥测技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311554216.8 |
| 申请日 | 2023/11/21 |
| 公告号 | CN117629587A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 同济大学; 北京遥测技术研究所 |
| 发明人 | 马彬; 颜冬月; 赵一鸣; 李静; 王占山; 沈正祥; 何春伶; 潘俏菲 |
| 地址 | 上海市杨浦区四平路1239号; 北京市丰台区南大红门路1号 |
摘要文本
本发明涉及一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法，所述装置包括待测倍频激光器、两个基准激光器、五个双波长反射镜、四个双波长分光镜、中性密度衰减片、部分反射镜组、电动滤光片转轮、两个快门、消色差透镜、光束质量分析仪和两个可变光阑。与现有技术相比，本发明可以同时测量双波长激光的光束质量因子，具有测量效率高、操作简便以及测量准确度高等优点。。专利查询网
专利主权项内容
1.一种测量双波长激光光束质量因子的装置，其特征在于，包括第一基准激光器(201)、第二基准激光器(202)和待测倍频激光器(203)，所述待测倍频激光器(203)输出的光束经过第四双波长反射镜(204)和第五双波长反射镜(205)反射，通过第二双波长分光镜(3)后进入中性密度衰减片(4)；所述第二基准激光器(202)输出的光束经过第一双波长反射镜(1)反射后，与所述第一基准激光器(201)输出的光束通过第一双波长分光镜(2)，到达所述第二双波长分光镜(3)；所述中性密度衰减片(4)后依次设置部分反射镜组(5)、电动滤光片转轮(6)和第三双波长分光镜(7)，所述第三双波长分光镜(7)后分设校准光路(II)和测试光路(I)，所述校准光路(II)包括第一快门(8)、第二双波长反射镜(9)和第三双波长反射镜(10)，所述测试光路(I)包括第二快门(14)和消色差透镜(12)，所述校准光路(II)和测试光路(I)输出的光束通过第四双波长分光镜(11)到达光束质量分析仪(13)，所述第二双波长分光镜(3)和所述中性密度衰减片(4)之间设置第一可变光阑(101)，所述第四双波长分光镜(11)和所述光束质量分析仪(13)之间设置第二可变光阑(102)。 关注公众号马 克 数 据 网