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一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法
申请人信息
- 申请人:同济大学; 北京遥测技术研究所
- 申请人地址:200092 上海市杨浦区四平路1239号
- 发明人: 同济大学; 北京遥测技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311552506.9 |
| 申请日 | 2023/11/21 |
| 公告号 | CN117629584A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 同济大学; 北京遥测技术研究所 |
| 发明人 | 马彬; 侯志强; 李静; 赵一鸣; 王占山; 沈正祥; 何春伶; 颜冬月 |
| 地址 | 上海市杨浦区四平路1239号; 北京市丰台区南大红门路1号 |
摘要文本
本发明涉及一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法，所述全口径偏振测量系统包括精密圆孔、反变迹滤光片、零级1/4波片、零级1/2波片、薄膜偏振片和两台高损伤阈值能量计；使用所述全口径偏振测量系统进行测量时，对于基频激光，先使用所述零级1/4波片进行相位调制获得线偏振光，对于倍频激光，直接使用所述零级1/2波片进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；在获得待测激光所需偏振方向的输出后，通过两台高损伤阈值能量计完成待测激光全口径偏振度测量，并评价其区域稳定性。与现有技术相比，本发明具有测量效率和测量精度高，可重复性好，结构简单等优点。
专利主权项内容
1.一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统，其特征在于，包括精密圆孔(9)以及在其之后依次设置的反变迹滤光片(2)、零级1/4波片(4)、零级1/2波片(3)和薄膜偏振片(1)，所述薄膜偏振片(1)的后方设置有第一高损伤阈值能量计(5)，侧方设置有第二高损伤阈值能量计(6)；所述第一高损伤阈值能量计(5)和第二高损伤阈值能量计(6)的靶面直径均大于所述精密圆孔(9)的直径；使用所述全口径偏振测量系统进行测量时，对于基频激光，先使用所述零级1/4波片(4)进行相位调制获得线偏振光，再使用所述零级1/2波片(3)进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；对于倍频激光，直接使用所述零级1/2波片(3)进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；在获得待测激光所需偏振方向的输出后，通过所述第一高损伤阈值能量计(5)和所述第二高损伤阈值能量计(6)完成待测激光全口径偏振度测量，并评价其区域稳定性。