← 返回列表
一种用于Nd：YAG激光器的偏振测量系统及方法
申请人信息
- 申请人:同济大学
- 申请人地址:200092 上海市杨浦区四平路1239号
- 发明人: 同济大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于Nd：YAG激光器的偏振测量系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311558494.0 |
| 申请日 | 2023/11/21 |
| 公告号 | CN117723269A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 同济大学 |
| 发明人 | 马彬; 侯志强; 焦宏飞; 王占山; 沈正祥; 何春伶; 颜冬月; 郑湘粤 |
| 地址 | 上海市杨浦区四平路1239号 |
摘要文本
本发明涉及一种用于Nd：YAG激光器的偏振测量系统及方法，所述测量系统包括激光光闸、零级1/4波片、零级1/2波片、第一偏振分束立方、第二偏振分束立方、第一高灵敏能量计和第二高灵敏能量计，使用所述偏振测量系统测量偏振度时，对于椭圆偏振光，先使用所述零级1/4波片进行相位调制，以获得线偏振光；对于线偏振光，直接使用所述零级1/2波片进行相位延迟，以获得所需偏振方向的输出；通过对两台高灵敏能量计的示数进行读取和修正，获得最终的偏振测量结果。与现有技术相比，本发明可以得到Nd：YAG倍频/基频激光的准确偏振度，易于安装、使用简便。
专利主权项内容
1.一种用于Nd：YAG激光器的偏振测量系统，其特征在于，包括激光光闸(8)、零级1/4波片(4)、零级1/2波片(5)、第一偏振分束立方(2)、第二偏振分束立方(3)、第一高灵敏能量计(6)和第二高灵敏能量计(7)，所述激光光闸(8)后依次设置所述零级1/4波片(4)、所述零级1/2波片(5)、所述第一偏振分束立方(2)和所述第二偏振分束立方(3)，所述第一高灵敏能量计(6)位于所述第二偏振分束立方(3)的后方，所述第二高灵敏能量计(7)位于所述第二偏振分束立方(3)的侧方；使用所述偏振测量系统测量偏振度时，对于椭圆偏振光，先使用所述零级1/4波片(4)进行相位调制，以获得线偏振光；对于线偏振光，直接使用所述零级1/2波片(5)进行相位延迟，以获得所需偏振方向的输出；通过对所述第一高灵敏能量计(6)和所述第二高灵敏能量计(7)的示数进行读取和修正，获得最终的偏振测量结果。