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一种芯片生产设备电磁干扰检测系统

申请号: CN202311530433.3
申请人: 上海创芯致锐互联网络有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种芯片生产设备电磁干扰检测系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311530433.3
申请日 2023/11/16
公告号 CN117491787A
公开日 2024/2/2
IPC主分类号 G01R31/00
权利人 上海创芯致锐互联网络有限公司
发明人 李志兴; 王喆坤
地址 上海市浦东新区自由贸易试验区张杨路707号二层西区205室

摘要文本

上海创芯致锐互联网络有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种芯片生产设备电磁干扰检测系统,涉及电磁干扰检测技术领域,包括服务器、抗磁监管单元、细化管理单元、反馈分析单元、划分分析单元以及预警管理单元;本发明通过采集目标芯片生产设备的环境数据,并进行监管预警评估分析,以判断目标芯片生产设备是否存在电磁干扰,以便及时的做出预警操作,且通过信息反馈的方式对风险数据进行深入式影响评估分析,进而根据电磁干扰等级进行合理、有针对性的维护管理,以提高目标芯片生产设备的抗电磁干扰效果,且对预警数据进行预警监管性能评估分析,有助于提醒运管人员结合延误情况再对目标芯片生产设备进行合理、有针对性的管理,有助于提高目标芯片生产设备的预警性能和预警效果。 来自马-克-数-据-官网

专利主权项内容

1.一种芯片生产设备电磁干扰检测系统,其特征在于,包括服务器、抗磁监管单元、细化管理单元、反馈分析单元、划分分析单元以及预警管理单元;当服务器生成运管指令时,并将运管指令发送至抗磁监管单元,抗磁监管单元在接收到运管指令后,立即采集目标芯片生产设备的环境数据,环境数据包括传导干扰频率值和环境电磁辐射值,并对环境数据进行监管预警评估分析和深入式曲线分析,将得到的风险信号发送至细化管理单元和反馈分析单元;细化管理单元在接收到风险信号后,立即采集目标芯片生产设备的风险数据,风险数据包括阻抗值和设备故障率,并对风险数据进行深入式影响评估分析,将得到的二级影响信号发送至划分分析单元,并将得到的一级影响信号和三级影响信号发送至预警管理单元;反馈分析单元在接收到风险信号后,立即采集目标芯片生产设备的预警数据,预警数据包括响应时长和干扰传输值,并对预警数据进行预警监管性能评估分析,将得到的延误信号发送至预警管理单元;划分分析单元在接收到二级影响信号后,立即对二级影响信号所对应的电磁影响评估系数G进行深入式划分监管分析,将得到的次二级信号和次一级信号发送至预警管理单元。 数据由马 克 团 队整理