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面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端

申请号: CN202311740905.8
申请人: 上海先楫半导体科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端
专利类型 发明申请
申请号 CN202311740905.8
申请日 2023/12/15
公告号 CN117672340A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G11C29/56
权利人 上海先楫半导体科技有限公司
发明人 姚琳
地址 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路111号3号楼203室

摘要文本

上海先楫半导体科技有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明提供一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端,通过当前版本的OTP存储器设计文档生成关闭位信息输入文件,且在为初始版本时基于关闭位信息输入文件生成所有模块关闭位的测试数据进行OTP的芯片系统验证,在为非初始版本时基于上一版本以及当前版本的关闭位信息输入文件确定发生变更的各模块关闭位的关闭位信息,获得所有模块关闭位的测试数据进行OTP的芯片系统验证。本发明可以从繁杂的设计文档中提取有效的信息,根据提取信息生成大量重复性的测试用例和测试平台代码。并且针对中间的设计版本,提取设计文档中OTP的改动项生成测试用例和生成测试平台代码片段,这样无论是设计初版还是中间改动版都可以实现自动化地生成测试用例和测试平台,缩短了项目中OTP的系统验证时间以及大大提高了验证的准确率。

专利主权项内容

1.一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法,其特征在于,所述方法包括:基于发布的当前版本的OTP存储器设计文档生成对应的关闭位信息输入文件;其中,所述关闭位信息输入文件包括:当前版本的OTP存储器设计文档中所有模块关闭位的关闭位信息;若当前版本为初始版本,则基于对应的关闭位信息输入文件生成当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据,以供进行OTP的芯片系统验证;其中,所述测试数据包括:测试用例和测试平台代码;若当前版本为非初始版本,则基于上一版本以及当前版本的所分别对应的关闭位信息输入文件确定发生变更的模块关闭位,并基于发生变更的各模块关闭位的关闭位信息获得当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据,以供进行OTP的芯片系统验证。