一种基于缺陷数据的区域分割方法、设备及介质
申请人信息
- 申请人:上海朋熙半导体有限公司
- 申请人地址:201208 上海市浦东新区涵桥路619号金鼎天地C栋15-17楼
- 发明人: 上海朋熙半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于缺陷数据的区域分割方法、设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311415437.7 |
| 申请日 | 2023/10/30 |
| 公告号 | CN117454222A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G06F18/24 |
| 权利人 | 上海朋熙半导体有限公司 |
| 发明人 | 张强 |
| 地址 | 上海市浦东新区涵桥路619号金鼎天地C栋15-17楼 |
摘要文本
上海朋熙半导体有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本申请提供了一种基于缺陷数据的区域分割方法、设备及介质，包括步骤：S1：获取缺陷数据源；S2：计算缺陷的外切圆半径；S3：分别计算缺陷对应的x轴坐标值排序后的前后差值和y轴坐标值排序后的前后差值；S4：分别计算缺陷对应的所述x轴坐标值和y轴坐标值所归属的标签，根据标签筛选x、y轴坐标值形成坐标集；S5：定义x轴方向或y轴方向所属的区域块函数，用来对每条缺陷样本进行轴方向上的类别归类；S6：对坐标区域进行合并整合，得到每个缺陷所属的分割区域标签。通过数据区域分割划分后，形成cluster间距离互不影响的区域块，在不同区域块可以实现并行cluster计算，节约了计算资源，提升了运算速度。
专利主权项内容
1.一种缺陷数据区域分割方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取缺陷数据源；其中，缺陷的中心坐标为(x, y), 缺陷的形状尺寸值为(XSIZE, YSIZE)，缺陷簇要求的阈值为tolerance；S2：计算每个缺陷的外切圆半径r；S3：分别计算每个缺陷对应的x轴坐标值排序后差值x_gap和对应的y轴坐标值排序后差值y_gap；S4：基于所述x_gap和所述y_gap分别与tolerance的大小关系分别计算每个缺陷对应的所述x轴坐标值所归属的标签和所述y轴坐标值所归属的标签，基于所述所归属的标签筛选得到一组x轴坐标值和一组y轴坐标值, 分别排序形成坐标集x_split和坐标集y_split，坐标集x_split的值将x轴方向划分为len(x_split)+1个区间段，坐标集y_split的值将y轴方向划分为len(y_split)+1个区间段, 所述len(x_split)为x_split中坐标的个数，所述len(y_split)为y_split中坐标的个数；S5：定义x轴方向、y轴方向所属的区域块函数, 所述区域块函数用于判定当前样本x轴方向在所述len(x_split)+1个区间段中所属的区间段和当前样本y轴方向的坐标值在所述len(y_split)+1个区间段中所属的区间段，根据所述所属的区间段返回对应值作为x轴坐标值的分割标签和y轴坐标值的分割标签；S6：利用所述区域块函数和所述坐标集，生成每条缺陷对应的x轴坐标值和y轴坐标值的分割标签，对分割标签进行合并整合，得到每个缺陷所属的分割区域标签。 （来自 马克数据网）