一种可兼容测试多款LGA封装芯片测试辅助装置

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北京时代民芯科技有限公司; 北京微电子技术研究所取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型公开一种可兼容测试多款LGA封装芯片测试辅助装置，包括测试臂压头组件、旋转台组件、测试插座对接板组件；通过外部分选机将被测芯片传送至所述旋转台组件中，旋转台组件及芯片整体移动到测试臂压头组件下方，测试臂压头组件与外部真空发生器配合将被测芯片吸取后放置到测试插座对接板组件中，进行通电测试。测试完成后分选机将芯片取回并运载至出料处，实现人工手测转向自动化测试。为满足不同外形尺寸、不同引脚数量的LGA封装芯片的自动化测试，通过更换运料小车上的可拆装导向限位框或导向柱、调整对接板限位高度及背面的垫脚等优化设计，实现多款芯片测试的兼容性，降低辅助装置的制造成本，并提高产品的测试效率。