← 返回列表
芯片试验箱和芯片试验装置
摘要文本
南京芯视元电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型涉及一种芯片试验箱和芯片试验装置。芯片试验箱包括：箱体，箱体的第一侧开设有第一通孔，第二侧设有第一门体，第一门体开设有第二通孔；以及支承组件，设置于箱体内部，用于支承被测芯片，支承组件开设有第三通孔，第三通孔朝向被测芯片，且第三通孔与第一通孔连通。本实用新型提供的芯片试验箱通过负压对芯片进行固定，避免了使用拆卸过程中对被测芯片的损伤，避免了被测芯片因为使用胶带固定带来的样品位移，保证了测试精度。 来自： 团 队
专利主权项内容
1.一种芯片试验箱，其特征在于，所述芯片试验箱包括：
箱体，所述箱体的第一侧开设有第一通孔，第二侧设有第一门体，所述第一门体开设有第二通孔；以及
支承组件，设置于所述箱体内部，用于支承被测芯片，所述支承组件开设有第三通孔，所述第三通孔朝向所述被测芯片，且所述第三通孔与所述第一通孔连通。
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片试验箱和芯片试验装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420539366.5 |
| 申请日 | 2024/3/20 |
| 公告号 | CN222145068U |
| 公开日 | 2024/12/10 |
| IPC主分类号 | G01R1/04 |
| 权利人 | 南京芯视元电子有限公司 |
| 发明人 | 何军; 周翠荣; 姬丽丽 |
| 地址 | 江苏省南京市江北新区星火路14号长峰大厦1号试验楼2楼 |