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一种集成电路测试用探针
摘要文本
安徽智芯科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型公开了一种集成电路测试用探针，属于电路测试设备技术领域，一种集成电路测试用探针，包括连接座，连接座下端固定连接有探针本体，连接座外端设有防护筒，防护筒下端设有密封套，密封套内端固定连接有多个密封片，且多个密封片之间相互抵接，密封套上端固定连接有卡环，防护筒下端开设有与卡环相匹配的环形卡槽，密封片包括橡胶片，橡胶片固定连接于密封套内端，橡胶片靠近探针本体一侧内端固定连接有除尘擦，它可以实现通过防护筒对探针本体进行包裹防护并结合密封片对底部进行遮挡减少灰尘粘附探针本体的目的，同时利用探针本体和密封片还可以减少空气对探针本体造成的侵蚀，从而有效提高探针本体的使用寿命。 （来自 ）
专利主权项内容
1.一种集成电路测试用探针，包括连接座(1)，其特征在于：所述连接座(1)下端固定连接有探针本体(2)，所述连接座(1)外端设有防护筒(3)，所述防护筒(3)下端设有密封套(4)，所述密封套(4)内端固定连接有多个密封片(5)，且多个密封片(5)之间相互抵接，所述密封套(4)上端固定连接有卡环(6)，所述防护筒(3)下端开设有与卡环(6)相匹配的环形卡槽。
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种集成电路测试用探针 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420495306.8 |
| 申请日 | 2024/3/14 |
| 公告号 | CN222145090U |
| 公开日 | 2024/12/10 |
| IPC主分类号 | G01R1/067 |
| 权利人 | 安徽智芯科技有限公司 |
| 发明人 | 詹海明 |
| 地址 | 安徽省亳州市亳芜产业园区合欢路76号科技孵化楼403室 |