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芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区金科路2889弄2号12层01、02、03、04、05单元
- 发明人: 摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311493099.9 |
| 申请日 | 2023/11/9 |
| 公告号 | CN117494638A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G06F30/367 |
| 权利人 | 摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名; 请求不公布姓名 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区金科路2889弄2号12层01、02、03、04、05单元 |
摘要文本
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本公开涉及集成电路技术领域，提出一种芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质，所述方法包括：将激励信号输入待测芯片，待测芯片在验证平台中为代码形式；接收待测芯片的实际输出结果；检测激励信号对应的预期输出结果的类型，不同类型的预期输出结果对应的验证方式不同；根据预期输出结果对应的验证方式对预期输出结果与实际输出结果进行验证，确定待测芯片功能是否正常。本公开实施例的芯片功能的验证方法可根据检测出的预期输出结果的类型对应的验证方式进行验证，实现了根据具体激励自动对验证方式进行调整，可以提高芯片功能的验证的灵活性，且使用对应的验证方式也可以提高仿真错误的识别准确度。
专利主权项内容
1.一种芯片功能的验证方法，其特征在于，所述方法应用于芯片功能的验证平台，所述方法包括：将激励信号输入待测芯片，所述待测芯片在所述验证平台中为代码形式；接收所述待测芯片的实际输出结果；检测所述激励信号对应的预期输出结果的类型，不同类型的预期输出结果对应的验证方式不同；根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常。