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一种用于多增益档位的ADC满量程校准方法
申请人信息
- 申请人:上海芯炽科技集团有限公司
- 申请人地址:200000 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 发明人: 上海芯炽科技集团有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于多增益档位的ADC满量程校准方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311642301.X |
| 申请日 | 2023/12/4 |
| 公告号 | CN117353739B |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | H03M1/10 |
| 权利人 | 上海芯炽科技集团有限公司 |
| 发明人 | 程剑平 |
| 地址 | 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼 |
摘要文本
上海芯炽科技集团有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开一种用于多增益档位的ADC满量程校准方法，属于电子领域。对参考电压VREF进行放大一定倍数后输入至ADC；并且在数字滤波器中将增益除以相同倍数。对于集成了多档位增益的ADC电路，本发明使用一种比较简单的电路实现方式，减小了ADC开关部分逻辑设计的复杂性，以及解决了多尺寸电容设计时，工艺或者版图带来的增益误差变大的问题，利用对参考电压VREF的放大来进行信号缩小的思想，避免ADC在模拟部分提前饱和，来实现多档位增益下的满量程校准，提高ADC的精度。
专利主权项内容
1.一种用于多增益档位的ADC满量程校准方法，其特征在于，包括：对参考电压VREF进行放大一定倍数M后输入至ADC，使原本的ADC的REF电压从VREF电压抬升至VREF*M，M>1；并且在数字滤波器中将增益除以相同倍数；所述ADC满量程校准时，将参考电压VREF作为输入信号；所述参考电压VREF和放大一定倍数的参考电压均由同一个REF模块中产生；所述参考电压VREF经过多路选择器MUX后输入至ADC中。