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一种ADC下极板采样电路
申请人信息
- 申请人:灿芯半导体(上海)股份有限公司
- 申请人地址:200135 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号礼德国际2号楼6楼
- 发明人: 灿芯半导体(上海)股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种ADC下极板采样电路 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311759459.5 |
| 申请日 | 2023/12/20 |
| 公告号 | CN117713820A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | H03M1/06 |
| 权利人 | 灿芯半导体(上海)股份有限公司 |
| 发明人 | 林志伦; 庄志青; 胡红明; 张希鹏; 周玉镇 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号礼德国际2号楼6楼 |
摘要文本
灿芯半导体(上海)股份有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种ADC下极板采样电路，包括：共模电平检测部分和ADC采样电容部分，所述共模电平检测部分包括共模电平保护电路，所述ADC采样电容部分包括ADC采样电路；所述共模电平保护电路是由三组电阻分压，两个比较器以及相对应的逻辑电路组成。本发明通过内置共模电平检测电路，使得超出设计范围的ADC输入共模电平不被传导到电容的顶板，这样即使电容顶板及其连接的比较器或者放大器使用core器件也能够承受异常状态导致的ADC输入共模电平范围。
专利主权项内容
1.一种ADC下极板采样电路，其特征在于，包括：共模电平检测部分和ADC采样电容部分，所述共模电平检测部分包括共模电平保护电路，所述ADC采样电容部分包括ADC采样电路；所述共模电平保护电路是由三组电阻分压，两个比较器以及相对应的逻辑电路组成；第一组电阻分压包括输入信号V、输入信号V、电阻R、电阻R、输入电压VC；ipin1P1NP第二组电阻分压包括输入信号V、输入信号V、电阻R、电阻R、输入电压VC；refprefn2P2NN1第三组电阻分压包括输入信号V、输入信号V、电阻R、电阻R、输入电压VC；refprefn3P3NN2两个比较器包括：比较器i1、比较器i2；逻辑电路包括：门i3、门i4、非门i5、反相器i7、门i6、门i8、报警信号FLG_ERR、开关CK2D、开关CK2P；ADC采样电路包括：共模电平VTM、开关CK2D、开关CK2P、开关CK1P。