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一种缺陷检测方法、装置、系统及存储介质

申请号: CN202311640332.1
申请人: 上海宝柏新材料股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种缺陷检测方法、装置、系统及存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311640332.1
申请日 2023/12/1
公告号 CN117664984A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G01N21/88
权利人 上海宝柏新材料股份有限公司
发明人 杨辉; 季金平; 沈凯翔
地址 上海市金山区枫泾镇万枫公路2799号

摘要文本

上海宝柏新材料股份有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明涉及缺陷检测相关领域,具体为一种缺陷检测方法、装置、系统及存储介质,本发明通过以下步骤达到检测目的:获取待测塑胶品的待测区块;控制激光发射器照射待测区块,获得待测区块的视觉图像和光致发光光谱;根据视觉图像,确定待测区块上第一电极的位置;根据第一电极的位置,控制机械臂上第二电极与第一电极接触,获得待测区块的电致发光光谱;根据视觉图像、光致发光光谱和电致发光光谱,进行缺陷识别和结果融合,得到待测塑胶品的缺陷检测结果。

专利主权项内容

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、获取待测塑胶品的待测区块,并取得待测区块的图像,再应用边缘检测算法,提取待测区块的边界信息,接下来,使用颜色分析算法,分析待测区块的颜色特征,获取待测区块的表面信息和光学特性;步骤S2、控制激光发射器照射待测区块,获得待测区块的视觉图像和光致发光光谱,具体通过激光照射,激发待测区块的光致发光现象,并利用相应的光谱仪器捕捉光致发光信号,获取光致发光光谱;步骤S3、根据步骤S1中待测区块的表面信息中的视觉图像,确定待测区块上第一电极的位置,具体根据图像处理算法,准确定位待测区块上第一电极的位置;步骤S4、根据步骤S3中第一电极的位置,控制机械臂上第二电极与第一电极接触,获得待测区块的电致发光光谱,具体通过电致发光的方法,刺激待测区块产生电致发光现象,并采集相应的电致发光光谱信号;步骤S5、根据视觉图像、光致发光光谱和电致发光光谱,采用模式识别算法进行缺陷识别和结果融合,得到待测塑胶品的缺陷检测结果。