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一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质

申请号: CN202311516894.5
申请人: 上海云攀半导体有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311516894.5
申请日 2023/11/14
公告号 CN117723948A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G01R31/3181
权利人 上海云攀半导体有限公司
发明人 王超然; 请求不公布姓名
地址 上海市闵行区万源路2800号

摘要文本

上海云攀半导体有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明实施例涉及自动测试技术领域,公开了一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质。本发明中,获取了频率不同于电路正常工作频率信号作为参考信号;根据参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值以使待校准芯片内部电路在PVT波动时,对参考信号与工作信号的响应保持一致,根据待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应,对待校准芯片内部电路进行校准;利用频率不同于电路正常工作频率信号作为参考信号,这样就可以降低工装测试校准时对外部仪器种类以及数量的需求,任意时间内对模块做到实时检测,使得该模块完全不再需要对工装测试校准,进而降低了产品的整体生产周期以及对产品进行工装测试时的成本。

专利主权项内容

1.一种自动工装校准方法,其特征在于,包括:获取参考信号并获取所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应;其中,所述参考信号的频率不同于所述待校准芯片内部电路正常工作时输入的工作信号的频率;根据所述参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值,以使所述待校准芯片内部电路在PVT波动时,对所述参考信号与所述工作信号的响应保持一致;根据所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应,对所述待校准芯片内部电路进行校准。