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一种基于物联网的控制芯片自动化数据处理系统及方法
申请人信息
- 申请人:上海源斌电子科技有限公司
- 申请人地址:201100 上海市闵行区申南路515号1幢501A
- 发明人: 上海源斌电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于物联网的控制芯片自动化数据处理系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311717267.8 |
| 申请日 | 2023/12/14 |
| 公告号 | CN117762069A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G05B19/042 |
| 权利人 | 上海源斌电子科技有限公司 |
| 发明人 | 袁永斌 |
| 地址 | 上海市闵行区申南路515号1幢501A |
摘要文本
上海源斌电子科技有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种基于物联网的控制芯片自动化数据处理系统及方法，属于数据处理技术领域。本发明包括：S10：数据分析终端根据接收的实时测试数据对控制芯片的功能缺陷位置进行确定；S20：对控制芯片在各功能缺陷位置的实时测试数据进行自动关联，根据自动关联结果，对控制芯片的功能缺陷根源位置进行确定；S30：根据控制芯片的功能缺陷根源位置的优先级别，对控制芯片的功能缺陷原因进行分析；S40：对其它控制芯片的故障情况进行分析。本发明通过各功能模块中各功能缺陷位置之间的关联度，对各功能模块的功能缺陷根源位置进行确定，减少了系统对功能缺陷位置的数据处理量，进一步提高了系统的数据处理速率。
专利主权项内容
1.一种基于物联网的控制芯片自动化数据处理方法，其特征在于：所述方法包括：S10：将控制芯片与应用程序编程接口进行连接，将应用程序编程接口与数据分析终端进行连接，控制芯片的实时测试数据通过应用程序编程接口传输至数据分析终端，数据分析终端根据接收的实时测试数据对控制芯片的功能缺陷位置进行确定；S20：对控制芯片在各功能缺陷位置的实时测试数据进行自动关联，根据自动关联结果，对控制芯片的功能缺陷根源位置进行确定；S30：根据控制芯片的功能缺陷根源位置的优先级别，对控制芯片的功能缺陷原因进行分析；S40：根据S30中的分析结果，对控制芯片进行功能修复处理，将修复后的控制芯片的实时测试数据作为监测数据，在控制芯片的测试环境温度相同的情况下，通过监测数据与其它控制芯片的实时测试数据的对比结果，对其它控制芯片的故障情况进行分析。 马 克 数 据 网