一种基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法

专利主权项内容

1.一种基于大数据分析的芯片测试数据管理方法，其特征在于，包括以下分析步骤：步骤S100：标记以芯片和包含芯片的装置为测试对象的所有测试环节，基于事件记录先后顺序将测试环节进行序列化；将序列化后的测试环节以封装操作为分界点，封装前的测试环节标记为第一测试环节，封装后的测试环节标记为第二测试环节；步骤S200：基于第一测试环节和第二测试环节，获取环节对应的测试数据，对比分析两测试环节的测试数据确定数据追溯的唯一性，并基于分析结果建立对应测试环节的测试数据图谱；步骤S300：提取测试数据图谱中对应为抽样属性的测试环节以及相应的测试数据存储至历史待分析数据库中，在历史待分析数据库中存在异常测试数据时，分析异常测试数据在测试数据图谱关联关系中的离散值；步骤S400：获取历史数据库中记录异常测试数据对应芯片排查结果，所述排查结果包含排查原因和排查范围；基于排查结果和离散值构建对应测试环节的测试数据管理模型；步骤S500：当实时芯片抽样检测结果为异常时传输响应信号，触发模型分析流程并基于输出结果进行预警响应。