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一种能够延缓脆化现象发生的封装用键合铜丝及制备方法

申请号: CN202310894424.6
申请人: 贵研半导体材料(云南)有限公司; 贵研铂业股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种能够延缓脆化现象发生的封装用键合铜丝及制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202310894424.6
申请日 2023/7/20
公告号 CN117403050A
公开日 2024/1/16
IPC主分类号 C21D9/52
权利人 贵研半导体材料(云南)有限公司; 贵研铂业股份有限公司
发明人 康菲菲; 裴洪营; 梁辰; 甘俊; 阳岸恒; 周文艳; 俞建树; 李若镜; 贾得海; 王钊; 王佳; 崔博; 胡晋铨; 吴永瑾; 杜文晶
地址 云南省昆明市高新区马金铺贵金属产业园; 云南省昆明市五华区高新技术开发区科技路988号

摘要文本

贵研半导体材料(云南)有限公司; 贵研铂业股份有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种能够延缓脆化现象发生的封装用键合铜丝及制备方法,旨在解决键合铜丝在生产和应用过程中脆化的问题,采用的技术方案是:在高纯铜中添加2~8ppm的P和5~12ppm的Ag,5~15ppm Cr、Ge、Ni的一种或者两种,8~30ppm的Zn、Co的一种,按照以上配比熔炼拉拔加工到Φ1mm~Φ3mm,经高温淬火后再低温回火,接着拉拔加工到Φ0.05mm~Φ0.1mm,经氮气保护退火处理,再冷冻。拉拔加工到最终成品,再对成品丝去应力连续退火处理,退火后在键合铜丝表面敷一层抗氧化剂。通过以上技术方案处理的键合铜丝可以降低拉断力和伸长率同时下降的速度,为键合铜丝的大批量生产和应用提供了技术支撑。

专利主权项内容

1.一种能够延缓脆化现象发生的封装用键合铜丝,其特征在于,该键合铜丝是在5N以上高纯铜中添加微量的合金元素连铸成型,所述合金元素及质量比为:2~8ppm的P,5~12ppm的Ag,5~15ppm的Cr、Ge、Ni任一种或者两种,8~30ppm的Zn、Co的任一种。