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缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:钛玛科(北京)工业科技有限公司
- 申请人地址:100176 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层
- 发明人: 钛玛科(北京)工业科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311254013.7 |
| 申请日 | 2023/9/26 |
| 公告号 | CN117392066A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 钛玛科(北京)工业科技有限公司 |
| 发明人 | 杨牧; 赵亮; 李建福; 杨辉华; 陈建文; 张董 |
| 地址 | 北京市大兴区亦庄经济开发区经海四路福美宝产业园11号院3号楼4层 |
摘要文本
本说明书实施例提供缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中缺陷检测方法包括：获取初始缺陷图像，对初始缺陷图像进行优化处理，得到目标缺陷图像；基于目标缺陷图像进行特征提取，得到初始缺陷特征图像；基于初始缺陷特征图像进行特征增强处理，得到目标缺陷特征图像；基于目标缺陷特征图像进行图像提取，得到局部缺陷图像；对局部缺陷图像进行图像分析，确定缺陷区域。通过对初始缺陷图像进行优化处理、基于初始缺陷特征图像进行特征增强处理以及基于目标缺陷特征图像进行图像提取，提高了检测精度，并且降低了检测时间，由此实现了更高的检测效率。。来自：
专利主权项内容
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取初始缺陷图像，对所述初始缺陷图像进行优化处理，得到目标缺陷图像；基于所述目标缺陷图像进行特征提取，得到初始缺陷特征图像；基于所述初始缺陷特征图像进行特征增强处理，得到目标缺陷特征图像；基于所述目标缺陷特征图像进行图像提取，得到局部缺陷图像；对所述局部缺陷图像进行图像分析，确定缺陷区域。