距离测量方法及装置、存储介质及电子设备
申请人信息
- 申请人:北京天数智芯半导体科技有限公司
- 申请人地址:100089 北京市海淀区海淀西大街36号8层8002
- 发明人: 北京天数智芯半导体科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 距离测量方法及装置、存储介质及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311587237.X |
| 申请日 | 2023/11/24 |
| 公告号 | CN117782030A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01C11/08 |
| 权利人 | 北京天数智芯半导体科技有限公司 |
| 发明人 | 袁鑫; 廖斌; 陈坚; 李宇宙; 郭为 |
| 地址 | 北京市海淀区海淀西大街36号8层8002 |
摘要文本
本申请涉及测距技术领域，提供一种距离测量方法及装置、存储介质及电子设备。其中，距离测量方法包括：获取同一相机在多个视角下针对同一场景拍摄的多张图片；确定多张图片中的第一图片及其中的第一和第二待测点的像素坐标，确定多张图片中的第二图片及其中的第三和第四待测点的像素坐标；获取相机参数，并将四个待测点的像素坐标转换为对应的模型坐标；根据第一和第三待测点的模型坐标确定第一真实点的模型坐标，根据第二和第四待测点的模型坐标确定第二真实点的模型坐标；根据第一和第二真实点的模型坐标以及变换尺度，计算第一和第二真实点在真实世界中的距离。该方法测距效率较高、成本较低、精度较高、适用性较好、自动化程度较高。
专利主权项内容
1.一种距离测量方法，其特征在于，包括：获取同一相机在多个视角下针对同一场景拍摄的多张图片；确定所述多张图片中的第一图片，并确定所述第一图片中的第一待测点和第二待测点的像素坐标，以及，确定所述多张图片中的第二图片，并确定所述第二图片中的第三待测点和第四待测点的像素坐标；其中，所述第一待测点和所述第三待测点均对应所述场景中的第一真实点，所述第三待测点和所述第四待测点均对应所述场景中的第二真实点；获取所述相机的相机内参和相机外参，并根据所述相机内参和所述相机外参，将所述第一待测点、所述第二待测点、所述第三待测点和所述第四待测点的像素坐标转换为对应的模型坐标；其中，所述模型坐标为模型坐标系下的坐标，所述模型坐标系是指相机模型所在的世界坐标系；根据所述第一待测点和所述第三待测点的模型坐标确定所述第一真实点的模型坐标，以及，根据所述第二待测点和所述第四待测点的模型坐标确定所述第二真实点的模型坐标；获取所述模型坐标系和真实世界之间的变换尺度，并根据所述第一真实点的模型坐标、所述第二真实点的模型坐标以及所述变换尺度，计算所述第一真实点和所述第二真实点在所述真实世界中的距离。 来自马克数据网