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一种温度调整装置及中子衍射残余应力测量系统
申请人信息
- 申请人:中国原子能科学研究院; 中国科学院理化技术研究所
- 申请人地址:102413 北京市房山区新镇三强路1号院
- 发明人: 中国原子能科学研究院; 中国科学院理化技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种温度调整装置及中子衍射残余应力测量系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311355249.X |
| 申请日 | 2023/10/18 |
| 公告号 | CN117387816A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G01L5/00 |
| 权利人 | 中国原子能科学研究院; 中国科学院理化技术研究所 |
| 发明人 | 陈东风; 顾开选; 刘晓龙; 李眉娟; 刘蕴韬; 李玉庆; 孙凯 |
| 地址 | 北京市房山区新镇三强路1号院; 北京市海淀区中关村东路29号 |
摘要文本
本申请涉及残余应力测量领域，公开了一种温度调整装置及中子衍射残余应力测量系统。该温度调整装置包括容纳箱、第一制冷组件和第二制冷组件。其中，容纳箱内形成有容纳腔，容纳腔内设置有放置部，放置部用于放置测试样品。第一制冷组件导热连接至容纳腔，第一制冷组件能够将测试样品的温度降低至第一温度。第二制冷组件导热连接至容纳腔，且与第一制冷组件相对独立设置，第二制冷组件能够将测试样品的温度降低至第二温度。其中，第二制冷组件的制冷能力大于第一制冷组件的制冷能力，第二温度低于第一温度。本申请提供的温度调整装置具有制冷效率高，能够节省对测试样品的冷却时间，能耗较少的优点。。来自马-克-数-据
专利主权项内容
1.一种温度调整装置，其特征在于，用于对测试样品的温度进行调整，以使中子衍射残余应力测定仪对所述测试样品在不同温度下的残余应力进行测量，所述温度调整装置包括：容纳箱，所述容纳箱内形成有容纳腔，所述容纳腔内设置有放置部，所述放置部用于放置所述测试样品；第一制冷组件，导热连接至所述容纳腔，所述第一制冷组件能够将所述测试样品的温度降低至第一温度；第二制冷组件，导热连接至所述容纳腔，且与所述第一制冷组件相对独立设置，所述第二制冷组件能够将所述测试样品的温度降低至第二温度；其中，所述第二制冷组件的制冷能力大于所述第一制冷组件的制冷能力，所述第二温度低于所述第一温度。