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一种I2C从机设备的容错能力测试系统及方法

申请号: CN202311825407.3
申请人: 成都电科星拓科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

摘要文本

成都电科星拓科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明提供一种I2C从机设备的容错能力测试系统及方法,属于I2C总线通信技术领域,填补了现有技术对于从机容错能力检验的空缺;包括I2C总线、从机设备、不稳定波形电平模拟模块和波形斜率变化模拟模块;从机设备通过I2C总线与不稳定波形电平模拟模块相连接,不稳定波形电平模拟模块用于代替I2C通信过程中的主机设备,并向从机设备输出不稳定波形电平;I2C总线通过波形斜率变化模拟模块与外部电源相连接,波形斜率变化模拟模块用于改变I2C总线中的电平信号斜率;从机设备对不稳定波形电平及信号沿斜率变化做出响应,依据响应结果可评估其容错能力;本发明能统一高效地测试从机设备容错能力,保证从机设备的应用质量。。详见官网:

专利主权项内容

1.一种I2C从机设备的容错能力测试系统,其特征在于:所述测试系统包括I2C总线、从机设备、不稳定波形电平模拟模块和波形斜率变化模拟模块;所述从机设备通过所述I2C总线与所述不稳定波形电平模拟模块相连接,所述不稳定波形电平模拟模块用于代替常规I2C通信过程中的主机设备,并向所述从机设备输出不稳定波形电平;所述I2C总线通过所述波形斜率变化模拟模块与外部电源相连接,所述外部电源用于提供所述测试系统的电能供应,所述波形斜率变化模拟模块用于改变所述I2C总线中的电平信号斜率;所述波形斜率变化模拟模块共有2个,分别连接于所述I2C总线的时钟线SCL和数据线SDA上;每个所述波形斜率变化模拟模块均包括上拉电阻、数字电位器和第二FPGA单元;其中,所述时钟线SCL或所述数据线SDA通过所述上拉电阻与所述外部电源相连接,所述上拉电阻则通过所述数字电位器与所述第二FPGA单元相连接;所述第二FPGA单元装载有预设的波形斜率变化模拟程序,所述上拉电阻的阻值在所述数字电位器的作用下呈现为可变阻值状态;所述波形斜率变化模拟程序用于通过控制所述数字电位器,改变所述上拉电阻的阻值大小,进而改变在所述时钟线SCL或所述数据线SDA上传输的预设波形电平信号沿斜率;所述从机设备用于接收不同信号沿斜率的预设波形电平,并做出响应;测试人员依据响应结果,评估所述从机设备的容错能力;所述波形斜率变化模拟程序,通过FPGA编程方式,使电平波形的上升沿和下降沿的持续时间及长短发生改变。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种I2C从机设备的容错能力测试系统及方法
专利类型 发明授权
申请号 CN202311825407.3
申请日 2023/12/28
公告号 CN117478548B
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 H04L43/0817
权利人 成都电科星拓科技有限公司
发明人 傅青云; 彭一弘; 徐聪; 董超然
地址 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号