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一种基于相位偏折的离轴多反波前测量方法

申请号: CN202311409051.5
申请人: 天津大学
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于相位偏折的离轴多反波前测量方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311409051.5
申请日 2023/10/27
公告号 CN117451322A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 G01M11/02
权利人 天津大学
发明人 刘现磊; 张宏舜; 张效栋; 刘磊
地址 天津市南开区卫津路92号

摘要文本

本发明提供了一种基于相位偏折的离轴多反波前测量方法,涉及波前测量技术领域,该方法包括:获取多个不同相位和不同周期的正弦条纹图像,并进行灰度化处理,屏幕分别在至少两个不同的位置处,依次将灰度化处理后的正弦条纹图像显示到屏幕上,通过离轴多反光学系统后经过圆孔光阑在相机的焦平面处成像,得到多个正弦条纹成像图像,并对其进行相位解包裹,得到绝对相位,基于绝对相位计算相应位置处的波前斜率,对波前斜率进行积分重建,得到离轴多反波前面型。本发明中采用圆孔光阑可以根据相机焦点位置的不同进行灵活的调整,放置到准确的位置,并且根据离轴多反光学系统的口径选取屏幕满足测量需求,从而实现测量范围大、精度高的目的。

专利主权项内容

1.一种基于相位偏折的离轴多反波前测量方法,其特征在于,包括:获取多个不同相位和不同周期的正弦条纹图像,并将多个所述正弦条纹图像进行灰度化处理,得到正弦条纹灰度图像;通过屏幕分别在至少两个不同的位置处,依次显示多个所述正弦条纹灰度图像,所述正弦条纹灰度图像入射到离轴多反光学系统;基于入射到离轴多反光学系统的多个所述正弦条纹灰度图像经过光线的多次反射后,通过圆孔光阑在相机的焦平面处成像,得到多个正弦条纹成像图像;根据多频相位解包裹法对多个所述正弦条纹成像图像进行相位解包裹,得到多个所述正弦条纹成像图像的绝对相位;基于所述绝对相位,通过Southwell区域法模型计算绝对相位相应位置处的波前斜率;对所述波前斜率进行积分重建,得到离轴多反波前面型。 来自马-克-数-据