用于测量W band微波信号波前形状的六维测试平台
申请人信息
- 申请人:中国科学技术大学
- 申请人地址:230000 安徽省合肥市金寨路96号
- 发明人: 中国科学技术大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于测量W band微波信号波前形状的六维测试平台 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311406378.7 |
| 申请日 | 2023/10/26 |
| 公告号 | CN117524513A |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | G21B1/23 |
| 权利人 | 中国科学技术大学 |
| 发明人 | 韩玉箫; 张立夫; 徐红强; 谢锦林 |
| 地址 | 安徽省合肥市包河区金寨路96号 |
摘要文本
本发明涉及一种用于测量W band微波信号波前形状的六维测试平台，包括微波天线、微波混频器、微波倍频器、数字合成微波源、高速采集卡、三维驱动电机、三维旋转台、平面支撑结构。在微波信号处理方面，本发明通过差频测量法将待测的高频微波射频信号降频为低频的中频信号，通过将微波信号分为“实验道”和“参考道”两路消除时变相位对波前测量的影响，通过增加对微波天线三维角度的控制实现对微波场边缘位置的有效测量；在机械控制方面，本发明通过三维驱动电机和三维旋转台的有效配合实现对微波天线六维自由度的控制，并通过自主开发的测量平台控制软件实现了六维平台对w波段微波波前形状的全自动测量。
专利主权项内容
1.一种用于测量W band微波信号波前形状的六维测试平台，其特征在于，其微波处理组件包括实验道微波处理单元(10)、数字合成微波源(11)、微波源(12)、参考道微波处理单元(13)、同轴线缆(14)、采集卡(7)；微波源(12)发出的射频信号共有两路，其中一路通过微波天线发射到三维空间中，传播设定距离后被实验道微波处理单元(10)中的微波接收器接收；另一路通过同轴线缆(14)直接传输到参考道微波处理单元(13)中的混频器；对于实验道微波处理单元(10)，其中的倍频器接收来自数字合成微波源(12)的本振信号，倍频后得到与射频频率接近的本振信号，然后该本振信号在混频器中与微波接收器接收到的射频信号混频得到实验道中频信号，然后该中频信号经过同轴线缆(14)传输到采集卡(7)被采集记录；对于参考道微波信号处理单元(13)，其中的倍频器接收来自数字合成微波源(12)的本振信号，倍频后得到与射频频率接近的本振信号，然后该本振信号在混频器中与参考道射频信号混频得到参考道中频信号，然后该中频信号经过同轴线缆(14)传输到采集卡(7)被采集记录。