← 返回列表

一种基于微磁控技术通用型检测试管以及检测方法

申请号: CN202311754018.6
申请人: 合肥达徽基因科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于微磁控技术通用型检测试管以及检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311754018.6
申请日 2023/12/20
公告号 CN117732518A
公开日 2024/3/22
IPC主分类号 B01L3/00
权利人 合肥达徽基因科技有限公司
发明人 徐志珍; 方大伟; 程楠
地址 安徽省合肥市经济技术开发区芙蓉路268号创新创业园3#-C厂房

摘要文本

本发明公开了一种基于微磁控技术通用型检测试管以及检测方法,涉及检测技术领域,包括微磁控制管和密封传动机构,微磁控制管的顶部设置有密封传动机构,微磁控制管的底部设置有反应腔;密封传动机构包括顶盖,顶盖设置在微磁控制管的顶部,顶盖设置有用于与内密封槽连接的第一层螺纹和用于与微磁控制管的管口连接的第二层螺纹,顶盖内设置有密封传动轴,密封传动轴的上端设置顶部卡接头,密封传动轴的下方设置有内径大于密封传动轴的支撑圈,支撑圈的下方设置有内径小于支撑圈的底部卡接头,密封传动轴,支撑圈,顶部卡接头及底部卡接头为一个整体。通过密封传动机构实现了对试管的密封功能和搅拌功能。。详见官网:

专利主权项内容

1.一种基于微磁控技术通用型检测试管,其特征在于,包括微磁控制管(1)和密封传动机构(2),所述微磁控制管(1)的顶部设置有密封传动机构(2),所述微磁控制管(1)的底部设置有反应腔(7);所述密封传动机构(2)包括顶盖(21),所述顶盖(21)设置在微磁控制管(1)的顶部,所述顶盖(21)设置有用于与内密封槽(26)连接的第一层螺纹和用于与微磁控制管(1)的管口连接的第二层螺纹,所述顶盖(21)内设置有密封传动轴(22),所述密封传动轴(22)的上端设置顶部卡接头(24),所述密封传动轴(22)的下方设置有内径大于密封传动轴(22)的支撑圈(23),所述支撑圈(23)的下方设置有内径小于支撑圈(23)的底部卡接头(25),所述密封传动轴(22),支撑圈(23),顶部卡接头(24)及底部卡接头(25)为一个整体;所述密封传动机构(2)的下方设置有注液搅拌机构(3),所述注液搅拌机构(3)用于进行注液搅拌,所述注液搅拌机构(3)的外侧设置有预置机构(4),所述预置机构(4)用于预先存放反应用到的固体或液体;所述注液搅拌机构(3)的下方设置有密封注液机构(5)和反应机构(6),所述密封注液机构(5)用于隔离所述微磁控制管(1)内的试剂与所述反应机构(6)内部的试剂;所述反应机构(6)用于对待检测的核酸进行清洗;所述反应腔(7)用于进行核酸与反应液的反应。 马 克 数 据 网