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小麦透射光谱的异常光谱筛选模型确定方法、装置及介质

申请号: CN202311345371.9
申请人: 中国科学院合肥物质科学研究院
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 小麦透射光谱的异常光谱筛选模型确定方法、装置及介质
专利类型 发明授权
申请号 CN202311345371.9
申请日 2023/10/18
公告号 CN117093841B
公开日 2024/2/9
IPC主分类号 G06F18/20
权利人 中国科学院合肥物质科学研究院
发明人 张洪明; 吕波
地址 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号

摘要文本

本发明公开了一种小麦透射光谱的异常光谱筛选模型确定方法、装置及介质,通过获取对待测样品进行多次重复采样得到的不同透射光谱数据集;根据确定不同的异常光谱筛选模型;采用不同的异常光谱筛选模型分别对每一的透射光谱数据集进行筛选处理,计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收光谱;计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收标准差;根据预设的光谱预测模型中计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的预测标准差;根据不同的异常光谱筛选模型的吸收标准差以及预测标准差确定最优异常光谱筛选模型。本申请确定的最优异常光谱筛选模型能够提高异常光谱筛选的精度。

专利主权项内容

1.一种小麦透射光谱的异常光谱筛选模型确定方法,其特征在于,所述方法包括:获取对待测样品进行多次重复采样得到的不同透射光谱数据集,每一透射光谱数据集包括一次采样获取若干透射光谱;根据预设的异常光谱分析库中的不同异常光谱分析方法进行组合,确定不同的异常光谱筛选模型;采用不同的异常光谱筛选模型分别对每一透射光谱数据集进行筛选处理,剔除异常光谱,计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收光谱;计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收标准差;将不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收光谱代入预设的光谱预测模型中,计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的预测标准差;根据不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收标准差以及预测标准差确定最优异常光谱筛选模型;所述根据不同的异常光谱筛选模型筛选后的每一透射光谱数据集的吸收标准差以及预测标准差确定最优异常光谱筛选模型,具体包括:计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的不同透射光谱数据集的吸收标准差的平均值,得到平均吸收标准差;计算不同的异常光谱筛选模型筛选后的不同透射光谱数据集的预测标准差的平均值,得到平均预测标准差;将不同的异常光谱筛选模型的平均吸收标准差以及平均预测标准差进行加权计算,得到筛选效果值,根据筛选效果值确定最优异常光谱筛选模型。