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金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统

申请号: CN202311680354.0
申请人: 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311680354.0
申请日 2023/12/8
公告号 CN117390348A
公开日 2024/1/12
IPC主分类号 G06F17/13
权利人 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院
发明人 胡迪; 李涛; 杨为; 陈忠; 官玮平; 章程; 邵涛
地址 安徽省合肥市经济技术开发区紫云路299号

摘要文本

本发明提供金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统,方法包括:根据金属化薄膜电容器的实际使用条件,先测量出电容器有限点的电场分布情况,然后采用基于物理信息的神经网络PINNs反演得到连续的介电常数分布情况,再根据介电常数和几何形状获得实际条件下的电容量Cr,最后与初始容值C0作比较,计算出电容器的容量衰减率δ对其寿命进行评估。本发明解决了电容器容量衰减及预估电容器寿命预测精度低、老化器件难以提前识别,导致电子设备安全性及可靠性低的技术问题。

专利主权项内容

1.金属化薄膜电容器容量衰减处理方法,其特征在于,所述方法包括:S1、根据现场环境数据、实际测试数据,测得电场分布情况;S2、根据所述电场分布情况,利用电场强度空间分布,根据拉普拉斯方程以及基于物理信息的神经网络PINNs,采用偏微分方程、预置初始条件、预置边界条件作为约束,建立损失函数,据以根据所述电场强度空间分布,反演得到不同位置连续的介电常数及其分布情况;S3、根据所述介电常数、被测电容器几何形状,求得连续的电容值;CrS4、比较处理所述电容值与初始容值,据以求取被测电容器的容量衰减率;CrC0δS5、在所述被测电容器的所述容量衰减率小于预置阈值时,发出容量衰减告警信号,据以测试并更换当前位置的所述被测电容器。δ