← 返回列表
皮带偏移的检测方法、系统、设备和介质
申请人信息
- 申请人:合肥金星智控科技股份有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢生产楼
- 发明人: 合肥金星智控科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 皮带偏移的检测方法、系统、设备和介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311857576.5 |
| 申请日 | 2023/12/29 |
| 公告号 | CN117495858A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 合肥金星智控科技股份有限公司 |
| 发明人 | 申远; 戴亮亮; 刘传峰 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢生产楼 |
摘要文本
本发明涉及提供一种皮带偏移的检测方法、系统、设备和介质。方法包括：获取带有背景区域的皮带图像；将所述皮带图像输入至掩膜提取模型，获取掩膜图；其中，所述掩膜图中背景区域和皮带区域的像素值不同；对所述掩膜图进行逐行检测，根据每一行中的像素值，提取皮带区域的所有边缘点，组成皮带的边缘点集合；对所述边缘点集合内的各边缘点进行线性拟合，获得拟合线的斜率，根据所述斜率生成各边缘点的直线方程，并基于各直线方程从所述边缘点集合中识别出最外侧边缘点；获取最外侧边缘点相对于基准边缘线的横向绝对偏移距离；根据横向绝对偏移距离检测皮带是否发生偏移。解决了现有技术中无法准确检测皮带是否发生偏移的问题。。专利查询网
专利主权项内容
1.一种皮带偏移的检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取带有背景区域的皮带图像；将所述皮带图像输入至掩膜提取模型，获取掩膜图；其中，所述掩膜图中背景区域和皮带区域的像素值不同；对所述掩膜图进行逐行检测，根据每一行中的像素值，提取皮带区域的所有边缘点，组成皮带的边缘点集合；对所述边缘点集合内的各边缘点进行线性拟合，获得拟合线的斜率，根据所述斜率生成各边缘点的直线方程，并基于各直线方程从所述边缘点集合中识别出最外侧边缘点；获取最外侧边缘点相对于基准边缘线的横向绝对偏移距离；根据横向绝对偏移距离检测皮带是否发生偏移。