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基于机器视觉的BGA元件识别定位方法及系统、存储介质
申请人信息
- 申请人:合肥安迅精密技术有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区燕子河路388号亿智科技产业园1号楼2F
- 发明人: 合肥安迅精密技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于机器视觉的BGA元件识别定位方法及系统、存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311689141.4 |
| 申请日 | 2023/12/11 |
| 公告号 | CN117392226A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G06T7/73 |
| 权利人 | 合肥安迅精密技术有限公司 |
| 发明人 | 吴欢欢; 孙海星; 周照辉; 金长明 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区燕子河路388号亿智科技产业园1号楼2F |
摘要文本
本发明涉及元件识别定位技术领域，具体公开了一种基于机器视觉的BGA元件识别定位方法及系统、存储介质，方法包括以下步骤：根据元件参数和相机标尺设置Blob参数，对目标区域图像在不同二值化阈值下获得的轮廓进行筛选，全部符合筛选条件的轮廓设为候选轮廓；根据轮廓质心和半径对候选轮廓进行分类；利用评价函数整合每类轮廓，获得最终各个电极端子外轮廓；利用迭代加权最小二乘拟合方法基于最终电极端子外轮廓计算出各个电极端子中心坐标，识别待检测BGA元件位姿信息。该方案基于改进的多阈值分割的Blob算法和迭代加权最小二乘拟合的联用，保证了提取的BGA元件电极端子中心坐标准确性和稳定性，克服了难以获得稳定特征点的问题。
专利主权项内容
1.一种基于机器视觉的BGA元件识别定位方法，其特征在于，包括以下步骤：获取BGA元件图像目标区域；根据元件参数和相机标尺设置Blob参数，根据Blob参数对目标区域图像在不同二值化阈值下获得的轮廓进行筛选，全部符合筛选条件的轮廓设为候选轮廓；根据轮廓质心和半径对候选轮廓进行分类；利用评价函数整合每类轮廓，获得最终各个电极端子外轮廓，评价函数如下：其中，Radio为评价函数输出值，越小表示当前轮廓越接近理想轮廓；S为待检测电极端子外轮廓理论面积，S为当前轮廓的实际面积；Hr为当前轮廓的实际凸度，Cr为当前轮廓的实际圆度；α、β、γ为权重系数，α+β+γ=1；<利用迭代加权最小二乘拟合方法基于最终电极端子外轮廓计算出各个电极端子中心坐标，根据电极端子中心坐标识别待检测BGA元件位姿信息。。 （来自 马克数据网）