多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法
申请人信息
- 申请人:合肥精智达集成电路技术有限公司
- 申请人地址:230031 安徽省合肥市经济技术开发区兴业大道与光福路西北角空港集成电路标准厂房B栋3层
- 发明人: 合肥精智达集成电路技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311636988.6 |
| 申请日 | 2023/12/1 |
| 公告号 | CN117743046A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 合肥精智达集成电路技术有限公司 |
| 发明人 | 谢国军; 张滨 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区兴业大道与光福路西北角空港集成电路标准厂房B栋3层 |
摘要文本
本发明公开了多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法，属于芯片自动化测试设备领域。包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPG MUX多路选择器和信号调制模块；所述全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块均与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接，全功能ALPG模块的输出端、高频单路模式专用ALPG模块的输出端和ALPG MUX多路选择器通信连接。ALPG MUX多路选择器和信号调制模块通信连接，信号调制模块输出端和被测器件DUT连接。本发明通过增加新增高频单路模式专用ALPG模块实现高频率单路模式下对芯片进行测试，本发明降低了ALPG的FPGA编程的难度，也实现了客户的单路模式高于300MHz频率的需求，也降低了FPGA硬件的要求，方便了FPGA的选型，提高工作的效果和效率。
专利主权项内容
1.多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPG MUX多路选择器和信号调制模块；所述全功能ALPG模块与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接，测试平台系统用于对集成电路芯片进行质量检测；全功能ALPG模块用于支持多路交织模式与普通单路模式下的芯片测试；所述高频单路模式专用ALPG模块与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接，高频单路模式专用ALPG模块用用于支持高频单路模式下的芯片测试；所述全功能ALPG模块的输出端与ALPG MUX多路选择器的多路信号通道通信连接，ALPGMUX多路选择器的多路信号通道用于接收算法向量程序Pattern的多路信号以及普通的单路信号；所述高频单路模式专用ALPG模块的输出端与ALPG MUX多路选择器的单路信号通道通信连接，ALPG MUX多路选择器的单路信号通道用于接收算法向量程序Pattern的高频单路信号；所述ALPG MUX多路选择器与信号调制模块通信连接，信号调制模块用于对信号进行调制；所述信号调制模块输出端与被测器件DUT连接，调制后的信号作为测试向量，传输到被测器件DUT中，对被测器件DUT进行测试。