一种ATE中Burst Block Pattern模式的电压调整系统及方法
申请人信息
- 申请人:合肥精智达集成电路技术有限公司
- 申请人地址:230031 安徽省合肥市经济技术开发区兴业大道与光福路西北角空港集成电路标准厂房B栋3层
- 发明人: 合肥精智达集成电路技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种ATE中Burst Block Pattern模式的电压调整系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311614769.8 |
| 申请日 | 2023/11/29 |
| 公告号 | CN117647720A |
| 公开日 | 2024/3/5 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 合肥精智达集成电路技术有限公司 |
| 发明人 | 谢国军; 张滨 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区兴业大道与光福路西北角空港集成电路标准厂房B栋3层 |
摘要文本
本发明公开一种ATE中Burst Block Pattern模式的电压调整系统及方法，属于芯片自动化测试设备领域，包括Pattern编译器、测试CPU和ALPG硬件执行模块，所述Pattern编译器和测试CPU通信连接，测试CPU内部包括测试系统软件的测试程序模块、接口函数库存和驱动模块，测试系统软件的测试程序模块、接口函数库存、驱动模块依次通信连接；测试CPU和ALPG硬件执行模块通信连接；ALPG硬件执行模块和供电控制PPS单元通电连接，供电控制PPS单元和外部的被测器件DUT供电引脚通讯连接。本发明让ALPG无需和测试CPU交互，完全由ALPG完成Pattern内嵌的电压调整，这样电压调整速度快。从而减少和CPU交互时间，及测试系统软件被操作系统的调度时间等，实现了最快速的电压电流调整。
专利主权项内容
1.一种ATE中Burst Block Pattern模式的电压调整系统，其特征在于，包括Pattern编译器、测试CPU和ALPG硬件执行模块；所述Pattern编译器和测试CPU通信连接，Pattern编译器用于读取编译Pattern程序文本内容，输出编译结果程序文件；所述测试CPU内部包括测试系统软件的测试程序模块、接口函数库存和驱动模块，测试系统软件的测试程序模块、接口函数库存、驱动模块依次通信连接，测试CPU用于对程序指令执行模块ALPG进行管理；测试系统软件的测试程序模块用于对Pattern编译器完成编译后编译结果程序进行测试；接口函数库存用于加载Pattern编译结果程序到测试CPU的ALPG的指令空间；驱动模块用于加载Pattern编译结果程序到ALPG硬件执行模块的ALPG的指令空间，同时将多个BURST BLOCK数据块也顺序加载到指定的ALPG硬件执行模块的内存空间；所述测试CPU和ALPG硬件执行模块通信连接，ALPG硬件执行模块用于将BURST BLOCK数据块复制供电控制PPS单元接口的寄存器；所述ALPG硬件执行模块和供电控制PPS单元通电连接，供电控制PPS单元和外部的被测器件DUT供电引脚通讯连接，供电控制PPS单元用于控制被测器件DUT测试时的电压电流。 马 克 数 据 网