基于交织多路模式的芯片自动化测试用ALPG测试系统及方法

专利主权项内容

1.基于交织多路模式的芯片自动化测试用ALPG测试系统，其特征在于，包括ALPG模拟器、ALPG输出流库和ALPG运转模块；所述ALPG模拟器的输入端口和测试平台系统的输出端驱动接口交互连接，测试平台系统启动ALPG模拟器运行，测试平台系统内部配置有测试平台编程人员编写的测试计划的Pattern程序，ALPG模拟器用于顺序执行各WAY指令；所述ALPG模拟器输出端口和ALPG输出流库的高速接口通信连接，ALPG输出流库包括第一ALPG输出流库和第二ALPG输出流库，第一ALPG输出流库和第二ALPG输出流库相互通信连接，ALPG模拟器工作时向ALPG输出流库存储数据，第一ALPG输出流库、第二ALPG输出流库用以轮流存储ALPG模拟器产生的数据；所述ALPG模拟器和ALPG运转模块通信连接，ALPG模拟器对ALPG运转模块进行启停控制和CPU中断控制；所述ALPG运转模块和第一ALPG输出流库、第二ALPG输出流库的高速接口同时通信连接，在ALPG模拟器将向ALPG输出流库存储数据的过程中，ALPG运转模块从第一ALPG输出流库、第二ALPG输出流库轮流读取数据；ALPG模拟器向两块ALPG输出流库进行乒乓写数据，ALPG运转模块从两块ALPG输出流库进行乒乓读数据；所述ALPG运转模块和高频率交织模块通信连接，高频率交织模块和被测器件DUT通信连接，ALPG运转模块将多路信号逐周期的输出，经过高频率交织模块编排成高频率信号，送到被测器件DUT中进行最终的测试。