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屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质

申请号: CN202311641891.4
申请人: 歌尔股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质
专利类型 发明授权
申请号 CN202311641891.4
申请日 2023/12/4
公告号 CN117351011B
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 歌尔股份有限公司
发明人 李永志; 冯扬扬; 绳庆朋; 赵建行
地址 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号

摘要文本

本申请公开了一种屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质,涉及光学设备的检测领域,该方法包括:确定待检测屏幕的影像信息对应的二值图,并根据所述二值图中的灰度值跳变信息确定目标轮廓图像;确定所述目标轮廓图像进行灰度值填充后的填充图像;分别对所述目标轮廓图像以及所述填充图像进行高斯差分处理,确定第一缺陷图像以及第二缺陷图像;基于所述第一缺陷图像以及所述第二缺陷图像的灰度差值图,判定是否存在目标缺陷。有效解决了相关技术中位于屏幕边缘的缺陷容易误判为屏幕轮廓的一部分,导致漏检率高的技术问题,实现了将边缘缺陷与轮廓进行分离,准确提取边缘缺陷的技术效果。

专利主权项内容

1.一种屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述屏幕缺陷检测方法包括:对待检测屏幕的影像信息进行自适应二值化处理,确定二值图;基于所述二值图中灰度值跳变的相邻像素点,确定轮廓部和屏幕部,其中,所述屏幕部对应于屏幕部分的像素点,所述轮廓部对应所述屏幕部之外的像素点;当所述轮廓部的面积大于或者等于预设阈值时,确定所述轮廓部和所述屏幕部对应的轮廓线;以所述轮廓线的最小外接矩形作为目标区域;确定所述目标区域的二值图为目标轮廓图像;基于灰度值255对所述目标轮廓图像中所述屏幕部的像素点进行填充,生成填充图像;分别对所述目标轮廓图像以及所述填充图像进行高斯差分处理,确定第一缺陷图像以及第二缺陷图像,其中,所述第一缺陷图像以及所述第二缺陷图像为二值图;基于所述第一缺陷图像以及所述第二缺陷图像的灰度差值图,判定是否存在目标缺陷,其中,将所述第一缺陷图像以及所述第二缺陷图像的灰度值相减,确定所述灰度差值图。