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基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法

申请号: CN202311628833.8
申请人: 青岛艾诺仪器有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311628833.8
申请日 2023/12/1
公告号 CN117647745A
公开日 2024/3/5
IPC主分类号 G01R31/385
权利人 青岛艾诺仪器有限公司
发明人 白洪超; 于沛然; 张新; 张宏熠
地址 山东省青岛市崂山区株洲路134号1号楼1楼

摘要文本

本发明属于电池检测技术领域,涉及一种基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,初始化环形缓存器A1、A2和B,设置电池微短路阈值T;充电电压数据分别进入环形缓存器A1、A2,当环形缓存器A1占用空间大于1时,开始进行一阶微分计算,计算结果存入环形缓存器B;当环形缓存器B占用空间大于1时,开始进行二阶微分计算,当二阶微分值大于阈值T时,即视为微短路现象发生,触发处理器内的微短路事件;处理器继续控制ADC采样N/2次,然后将环形缓存器A2的电池微短路放电数据复制至ROM中显示。本发明采用软件方法设计三个环形缓冲器作为数据暂存区,灵活开辟内存空间,降低了生产成本、提高了调试效率。

专利主权项内容

1.基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、初始化环形缓存器A1、A2和B,其中A1、B的缓存池尺寸为N,A2的缓存池尺寸为M,M、N根据数据显示需要设定,设置电池微短路阈值T;步骤2、开启ADC采集,充电电压数据分别进入环形缓存器A1、A2,当环形缓存器A1占用空间大于1时,开始进行一阶微分计算,计算结果存入环形缓存器B;当环形缓存器B占用空间大于1时,开始进行二阶微分计算,处理器实时将二阶微分值与阈值T比较;当二阶微分值大于阈值T时,即视为微短路现象发生,触发处理器内的微短路事件;步骤3、当微短路事件发生,处理器继续控制ADC采样N/2次,然后将环形缓存器A2的电池微短路放电数据复制至ROM中,上位机从ROM中读取数据,将电池微短路放电数据显示于图像的中心位置;重复步骤2、3直到充电电压停止输出。