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一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质

申请号: CN202311841504.1
申请人: 致真精密仪器(青岛)有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质
专利类型 发明授权
申请号 CN202311841504.1
申请日 2023/12/29
公告号 CN117491924B
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G01R33/14
权利人 致真精密仪器(青岛)有限公司
发明人 刘迪; 王亚南; 夏裕凤; 陈冲; 欧阳玉东
地址 山东省青岛市崂山区松岭路393号6号楼3楼

摘要文本

本发明实施例公开了一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质。属于测量磁变量技术领域。解决绘制的磁滞回线误差较大的问题。包括,确定出磁性待测物的标定区域与检测区域;在无磁场环境中,获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强,以确定出旋转角度与透射光强之间的关系;开启磁场后,获取标定区域对应的实际灰度,将实际灰度与预置基准灰度进行比对,以得到灰度差;在灰度差大于预置阈值的情况下,基于旋转角度与透射光强之间的关系,确定出检偏器旋转角度,以对检偏器进行角度旋转;直至灰度差不大于预置阈值,确定出检测区域对应的光强信息,以计算检测区域的磁性;根据磁场信息、检测区域的磁性信息,得到磁滞回线。 (来自 专利查询网)

专利主权项内容

1.一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法,其特征在于,所述方法包括:确定出磁性待测物的标定区域与检测区域;其中,所述标定区域为所述磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域;所述检测区域为所述磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域;在无磁场环境中,获取所述标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强,基于所述检偏器旋转角度与所述透射光强,确定出旋转角度与透射光强之间的关系;开启磁场后,获取所述标定区域对应的实际灰度,将所述标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对,以得到灰度差;其中,所述磁场覆盖所述标定区域与所述检测区域;在所述灰度差大于预置阈值的情况下,基于所述旋转角度与透射光强之间的关系,确定出检偏器旋转角度,以对检偏器进行角度旋转;直至所述灰度差不大于所述预置阈值,确定出所述检测区域对应的光强信息,以计算所述检测区域的磁性;根据磁场信息、所述检测区域的磁性信息,得到磁滞回线;其中,所述磁场信息为所述检测区域对应的磁场强度。