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一种超薄、低阻的导电聚合物薄膜及其制备方法

申请号: CN202311270985.5
申请人: 青岛中科华联新材料股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种超薄、低阻的导电聚合物薄膜及其制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311270985.5
申请日 2023/9/28
公告号 CN117343429A
公开日 2024/1/5
IPC主分类号 C08L23/12
权利人 青岛中科华联新材料股份有限公司
发明人 郅立鹏; 马燕鹏; 姜玉珍; 胡一波; 李光超; 任杰; 赵伟焱
地址 山东省青岛市黄岛区淮河西路569号

摘要文本

本发明提供一种超薄、低阻的导电聚合物薄膜及其制备方法,属于锂离子电池技术领域。该隔膜薄膜厚度为2‑5μm,无渗透孔,质量电阻率≤0.17Ω*g/m2,抗拉强度≥100Mpa,常温延伸率≥2.5%,高温延伸率≥5%,光面粗糙度(RA)≤0.4μm,光面粗糙度(RZ)≤1μm,毛面粗糙度(RA)≤0.7μm,毛面粗糙度(RZ)≤1.5μm。其制备方法为:将聚合物和助剂共混形成共混物,挤出成型并拉伸成膜,随后通过硫酸铜溶液进行电镀,使铜在所述膜上进一步生长,即得,优选共混物中加入导电物质。采用本发明的方法降低了制备铜箔工艺的繁琐程度和成本,所制得的铜箔更加轻薄,降低电池能量密度的同时,给铜箔赋予了聚合物的抗冲击性。

专利主权项内容

1.一种超薄、低阻的导电聚合物薄膜,其特征在于,所述薄膜厚度为2-5μm,无渗透孔,质量电阻率≤0.17Ω*g/m,抗拉强度≥100MPa,常温延伸率≥2.5%,高温延伸率≥5%,光面粗糙度(RA)≤0.4μm,光面粗糙度(RZ)≤1μm,毛面粗糙度(RA)≤0.7μm,毛面粗糙度(RZ)≤1.5μm。2