一种高端芯片散热器生产质量检测方法

专利主权项内容

1.一种高端芯片散热器生产质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集芯片散热器在每个时刻的散热器热像图；根据散热器热像图中的像素点在各时刻的像素值获得像素点的热量传播系数；对散热器热像图中的各像素点构建邻域窗口，根据邻域窗口内所有像素点的像素值以及热量传播系数获得邻域窗口内像素点的散热缺陷特征值；根据散热器热像图中的各像素点的邻域窗口内像素点的散热缺陷特征值获得各像素点的散热缺陷可能性；根据各像素点的散热缺陷可能性获得散热缺陷二值图像；获取散热缺陷二值图像中的散热缺陷区域，根据散热缺陷区域中像素点的散热缺陷可能性构建散热缺陷区域的缺陷延伸矩阵；将散热缺陷区域的最小外接矩形记为散热缺陷区域的延展区域；根据散热缺陷区域的延展区域的长度、宽度以及散热缺陷区域的缺陷延伸矩阵计算散热缺陷区域的缺陷痕迹延展指数；根据散热缺陷区域的缺陷痕迹延展指数以及散热缺陷区域中像素点的散热缺陷可能性计算芯片散热器的缺陷多样系数；根据芯片散热器的缺陷多样系数以及所有散热缺陷区域的缺陷痕迹延展指数计算芯片散热器的生产质量优良指数；根据芯片散热器的生产质量优良指数获得芯片散热器的生产质量等级；所述根据散热器热像图中的像素点在各时刻的像素值获得像素点的热量传播系数，包括：对于第t个时刻的散热器热像图中的各像素点，将像素点在第t个时刻的像素值与像素点在第t-1个时刻的像素值之间的差值绝对值作为像素点的前时刻差值；将像素点在第t个时刻的像素值与像素点在第t+1个时刻的像素值之间的差值绝对值作为像素点的后时刻差值；计算像素点的前时刻差值与后时刻差值之和与两倍预设时间间隔的比值，将所述比值记为像素点在第t个时刻的热量传播特征指数；将像素点在所有时刻的热量传播特征指数的平均值记为像素点的热量传播系数；所述对散热器热像图中的各像素点构建邻域窗口，根据邻域窗口内所有像素点的像素值以及热量传播系数获得邻域窗口内像素点的散热缺陷特征值，包括：对于第t个时刻的散热器热像图中的各像素点，以像素点为中心构建边长为预设数值的邻域窗口；分别将像素点的邻域窗口中的各像素点记为像素点的邻域像素；计算第t个时刻的散热器热像图中所有像素点的像素值的均值，将邻域像素的像素值与所述均值之间的差值绝对值记为邻域像素的热量偏离值；将邻域像素的热量传播系数与第t个时刻的散热器热像图中所有像素点的热量传播系数的均值之间的差值绝对值记为邻域像素的热量传播偏离值；将邻域像素的热量偏离值与热量传播偏离值之和记为邻域像素的散热缺陷特征值；所述根据散热器热像图中的各像素点的邻域窗口内像素点的散热缺陷特征值获得各像素点的散热缺陷可能性，包括：对于第t个时刻的散热器热像图中的各像素点，计算像素点的邻域窗口中所有邻域像素的散热缺陷特征值的均值，将所述均值记为像素点在第t个时刻的散热缺陷置信度；将像素点在所有时刻的散热缺陷置信度的均值的归一化值作为像素点的散热缺陷可能性；所述根据散热缺陷区域的缺陷痕迹延展指数以及散热缺陷区域中像素点的散热缺陷可能性计算芯片散热器的缺陷多样系数，包括：对于各散热缺陷区域，将散热缺陷区域内所有像素点的散热缺陷可能性的平均值记为散热缺陷区域的散热缺陷均值；将任意两个散热缺陷区域记为一个组合，将两个散热缺陷区域的散热缺陷均值的差值绝对值记为组合的散热差异；将两个散热缺陷区域的缺陷痕迹延展指数的差值绝对值记为组合的延展差异；将所有组合的散热差异与延展差异之和的平均值作为芯片散热器的缺陷多样系数。