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一种基于连续双缝扫描的束流发射度测量仪及测量方法
申请人信息
- 申请人:散裂中子源科学中心; 中国科学院高能物理研究所
- 申请人地址:523000 广东省东莞市大朗镇中子源路1号
- 发明人: 散裂中子源科学中心; 中国科学院高能物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于连续双缝扫描的束流发射度测量仪及测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311509940.9 |
| 申请日 | 2023/11/13 |
| 公告号 | CN117553916A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G01J3/44 |
| 权利人 | 散裂中子源科学中心; 中国科学院高能物理研究所 |
| 发明人 | 杨仁俊; 陈伟文; 刘仁洪; 姜世民 |
| 地址 | 广东省东莞市大朗镇中子源路1号; 北京市石景山区玉泉路19号乙 |
摘要文本
散裂中子源科学中心; 中国科学院高能物理研究所取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种基于连续双缝扫描的束流发射度测量仪及测量方法，测量仪包括数据处理模块、狭缝模块和荧光采集模块；数据处理模块和荧光采集模块电连接；狭缝模块包括第一狭缝板和第二狭缝板，第一狭缝板包括第一狭缝；第二狭缝板包括第二狭缝，第一狭缝和第二狭缝依次位于束流前进方向上，束流经第一狭缝后分割成n个子束团，子束团经第二狭缝后分割成m个子子束团；荧光采集模块包括荧光屏和图像采集装置，图像采集装置用于采集荧光屏上子子束团的荧光图像；数据处理模块用于根据子子束团的荧光图像，确定束流在第一狭缝处的相空间分布。利用两个纵向连续狭缝进行发射度测量，可以抑制空间电荷效应造成的测量误差，可以精准获得束流发射度。
专利主权项内容
1.一种基于连续双缝扫描的束流发射度测量仪，其特征在于，包括数据处理模块、狭缝模块和荧光采集模块；所述数据处理模块和所述荧光采集模块电连接；所述狭缝模块包括第一狭缝板和第二狭缝板，所述第一狭缝板包括第一狭缝；所述第二狭缝板包括第二狭缝，所述第一狭缝和所述第二狭缝相互平行且依次位于束流前进方向上；所述束流经所述第一狭缝后分割成n个子束团，所述子束团经所述第二狭缝后分割成m个子子束团；其中，n、m＞1，n、m为整数；所述荧光采集模块包括荧光屏和图像采集装置，所述荧光屏用于承接所述子子束团，所述图像采集装置用于采集所述荧光屏上所述子子束团的荧光图像；所述数据处理模块用于根据所述子子束团的荧光图像，确定所述束流在所述第一狭缝处的相空间分布。