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透明样品多点厚度监测方法、终端设备及介质
申请人信息
- 申请人:季华实验室
- 申请人地址:528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
- 发明人: 季华实验室
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 透明样品多点厚度监测方法、终端设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311467025.8 |
| 申请日 | 2023/11/3 |
| 公告号 | CN117450941A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G01B11/06 |
| 权利人 | 季华实验室 |
| 发明人 | 黄伟华; 涂政乾; 毕海; 狄子翔 |
| 地址 | 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号 |
摘要文本
季华实验室获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种透明样品多点厚度监测方法、终端设备及介质，该方法包括：控制光纤光源发射的照明信号经由Y型光纤和阵列透镜探头，对待测样品进行照射；控制所述阵列多通道光谱检测模块，采集所述待测样品表面反射的多通道光谱干涉数据，并确定所述多通道光谱干涉数据对应的目标光谱干涉数据；根据所述目标光谱干涉数据，获取所述待测样品的样品厚度。本发明能够实现高效且低成本的样品厚度多点测量。。来自：马 克 团 队
专利主权项内容
1.一种透明样品多点厚度监测方法，其特征在于，所述透明样品多点厚度监测方法应用于透明样品多点厚度监测系统，所述透明样品多点厚度监测系统包括：待测样品、Y型光纤、分别连接所述Y型光纤的阵列透镜探头、光纤光源和阵列多通道光谱检测模块；所述透明样品多点厚度监测方法，包括：控制所述光纤光源发射的照明信号经由所述Y型光纤和所述阵列透镜探头，对所述待测样品进行多点照射；控制所述阵列多通道光谱检测模块，采集所述待测样品表面反射的多通道光谱干涉数据，并确定所述多通道光谱干涉数据对应的目标光谱干涉数据；根据所述目标光谱干涉数据，获取所述待测样品的样品厚度。 马 克 数 据 网