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一种电路板检测的计算成像方法、系统、终端及存储介质
申请人信息
- 申请人:广州威睛光学科技有限公司
- 申请人地址:511400 广东省广州市南沙区横沥镇明珠一街1号306房J089
- 发明人: 广州威睛光学科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种电路板检测的计算成像方法、系统、终端及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311556676.4 |
| 申请日 | 2023/11/21 |
| 公告号 | CN117589797A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G01N21/956 |
| 权利人 | 广州威睛光学科技有限公司 |
| 发明人 | 孙琼阁; 马金亮; 郝雷 |
| 地址 | 广东省广州市南沙区横沥镇明珠一街1号306房J089 |
摘要文本
广州威睛光学科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明属于电路板检测技术领域，具体涉及一种电路板检测的计算成像方法、系统、终端及存储介质；其中, 电路板检测的计算成像方法包括以下步骤：根据电路板标准件的结构，创建电路板标准件的标准模型；使用波前编码采集部件采集获取待测电路板的视图信息；根据待测电路板的视图信息，对待测电路板的各个功能模块进行分区处理，以获得涂层区和部件区；根据涂层区和部件区，使用检测传感器采集获取待测电路板的各个分区的结构数据，根据所述各个分区的结构数据，创建实际模型；将所创建的实际模型与标准模型对比，以判断所述待测电路板的质量情况。本发明能够提高电路检测的精准性和快速性，避免进行多次反复检测，并且可以提高检测效率。
专利主权项内容
1.一种电路板检测的计算成像方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、根据电路板标准件的结构，创建电路板标准件的标准模型；S2、使用波前编码采集部件采集获取待测电路板的视图信息；S3、根据待测电路板的视图信息，对待测电路板的各个功能模块进行分区处理，以获得涂层区和部件区；S4、根据所述涂层区和部件区，使用检测传感器采集获取所述待测电路板的各个分区的结构数据，S5、根据所述各个分区的结构数据，创建实际模型；S6、将所创建的实际模型与标准模型对比，以判断所述待测电路板的质量情况。