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增材制造质量检测方法及相关装置

申请号: CN202311764353.4
申请人: 广州德擎光学科技有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 增材制造质量检测方法及相关装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202311764353.4
申请日 2023/12/19
公告号 CN117745674A
公开日 2024/3/22
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 广州德擎光学科技有限公司
发明人 袁鹏; 王明浪; 王琳; 白天翔; 游德勇
地址 广东省广州市海珠区沥滘路100号大院18号C201单元

摘要文本

广州德擎光学科技有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本申请实施例公开了一种增材制造质量检测方法及相关装置,该方法包括:工控电脑获取激光增材制造过程中第一时段的光信号对应的电信号,工控电脑基于至少两个光信号对应的至少两个电信号分别构建至少两张轨迹幅值图;工控电脑分别对至少两张轨迹幅值图进行划分,以得到多个图像块集;工控电脑基于每个图像块集中的图像块的电信号幅值,确定目标切片层中每个图像块集中图像块对应的区域是否存在缺陷。有利于检测出增材加工过程中的零件切片层的异常区域。

专利主权项内容

1.一种增材制造质量检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取激光增材制造过程中第一时段的光信号对应的电信号,所述第一时段为所述激光增材加工过程中加工目标零件的目标切片层的时段,所述光信号包括在所述第一时段激光器的出光信号,及在所述第一时段所述目标切片层产生的激光反射信号、可见光信号和红外光信号中的至少两个光信号;基于所述至少两个光信号对应的至少两个电信号分别构建至少两张轨迹幅值图;所述至少两张轨迹幅值图中每张轨迹幅值图的轮廓与所述目标切片层的轮廓相同,所述轨迹幅值图包括多条轨迹幅值线,所述多个轨迹幅值线与在加工所述目标切片层时的加工轨迹对应,所述轨迹幅值线所表示的幅值为在加工所述目标切片层过程中对应电信号的幅值;分别对所述至少两张轨迹幅值图进行划分,以得到多个第一图像块;分别对所述多个第一图像块进行块划分,以得到多个图像块集;所述多个图像块集与所述目标切片层的区域对应;所述多个图像块集中每个图像块集包括至少两个第二图像块,所述至少两个第二图像块分别属于至少两张轨迹幅值图,且所述至少两个第二图像块与所述目标切片层的同一区域对应;基于所述每个图像块集中的第二图像块的电信号幅值,确定所述目标切片层中所述每个图像块集中第二图像块对应的区域是否存在缺陷。