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一种尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:广州恒沙数字科技有限公司
- 申请人地址:510000 广东省广州市海珠区鹭江西街5号2楼202之一(仅限办公)
- 发明人: 广州恒沙数字科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311609622.X |
| 申请日 | 2023/11/28 |
| 公告号 | CN117635688A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G06T7/60 |
| 权利人 | 广州恒沙数字科技有限公司 |
| 发明人 | 沈俊羽; 黄志青 |
| 地址 | 广东省广州市海珠区鹭江西街5号2楼202之一(仅限办公) |
摘要文本
广州恒沙数字科技有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明公开了一种尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质，方法：获取已标注抓边框的训练图像；根据抓边框生成伪候选框，进而结合折线段，在训练图像中标注关键点，得到第二训练图像；将第二训练图像输入预测模型进行关键点预测，得到预测关键点；基于关键点和预测关键点计算损失函数得到损失函数值，根据损失值对预测模型的参数进行调整，得到训练完成的预测模型；通过训练完成的预测模型，对待测物体的目标图像进行关键点预测，进而基于预测得到的预测关键点得到待测物体的尺寸信息。本发明基于单阶段的目标检测算法YOLOV5，在其基础上添加了关键点预测分支，在检测框的同时检测框中的各种点，并且可以实现不同类型的预测狂抓取不同类型的点。
专利主权项内容
1.一种尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取已标注抓边框的训练图像；其中，所述抓边框中的边通过折线段标注；根据所述抓边框生成伪候选框，进而结合所述折线段，在所述训练图像中标注关键点，得到第二训练图像；将所述第二训练图像输入预测模型进行关键点预测，得到预测关键点；其中，所述预测模型基于YOLOV5配置得到，所述预测模型包括特征提取网络、特征金字塔网络、Roi Aline结构、框预测分支和关键点预测分支；所述关键点预测分支包括反卷积层、卷积层和全连接网络；基于所述关键点和所述预测关键点计算损失函数得到损失函数值，根据所述损失值对所述预测模型的参数进行调整，得到训练完成的预测模型；通过训练完成的所述预测模型，对待测物体的目标图像进行关键点预测，进而基于预测得到的预测关键点得到所述待测物体的尺寸信息。