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一种嵌入式闪存工艺的DEMOS结构及其制备方法

申请号: CN202311775120.4
申请人: 粤芯半导体技术股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种嵌入式闪存工艺的DEMOS结构及其制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311775120.4
申请日 2023/12/22
公告号 CN117457747A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 H01L29/78
权利人 粤芯半导体技术股份有限公司
发明人 沈安星; 朱海斌
地址 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号

摘要文本

粤芯半导体技术股份有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种嵌入式闪存工艺的DEMOS结构及其制备方法,包结构括:介质隔离层;设置于介质隔离层上方的逻辑栅;设置于介质隔离层下方的浮栅;将介质隔离层、逻辑栅和浮栅的一侧进行包裹并延伸的硅化物;设置于延伸部分硅化物上方的接触孔;其中,嵌入式闪存工艺的DEMOS结构有P型DEMOS结构和N型DEMOS结构。本发明的技术方案通过介质隔离层、设置于介质隔离层上方的逻辑栅以及设置于介质隔离层下方的浮栅,能够有效且可靠地使DEMOS在嵌入式闪存工艺的实现,无需额外通过制备闪存的工艺流程,即可直接在DEMOS结构生成过程中直接实现闪存的嵌入,提高了DEMOS结构的整合性,同时也简化了制备工艺。

专利主权项内容

1.一种嵌入式闪存工艺的DEMOS结构,其特征在于,包括:介质隔离层;设置于所述介质隔离层上方的逻辑栅;设置于所述介质隔离层下方的浮栅。