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一种收发芯片测试方法、系统和装置
申请人信息
- 申请人:广州润芯信息技术有限公司
- 申请人地址:510000 广东省广州市黄埔区南翔二路23号5栋605、625、631房
- 发明人: 广州润芯信息技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种收发芯片测试方法、系统和装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311705358.X |
| 申请日 | 2023/12/12 |
| 公告号 | CN117639973A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | H04B17/29 |
| 权利人 | 广州润芯信息技术有限公司 |
| 发明人 | 王日炎; 郝强宇; 方桂钿; 贺黉胤; 杨昆明; 胡东洋 |
| 地址 | 广东省广州市黄埔区南翔二路23号5栋605、625、631房 |
摘要文本
本发明提出一种收发芯片测试方法、系统和装置，通过所述发射通道接收由所述数字环路生成的第一测试信号，并对所述第一测试信号进行发射通道性能测试，得到发射通道性能测试结果；通过所述接收通道接收外部信号，并由所述数字环路生成的第二测试信号，并对所述第二测试信号进行接收通道性能测试，得到接收通道性能测试结果；根据所述发射通道性能测试结果和所述接收通道性能测试结果，生成芯片收发测试结果。能够解决现有技术在进行芯片测试时依赖外部设备进行频谱分析的问题，大大提高芯片测量效率。 更多数据：
专利主权项内容
1.一种收发芯片测试方法，其特征在于，所述收发芯片内设置有发射通道、接收通道和数字环路；所述收发芯片测试方法包括：通过所述发射通道接收由所述数字环路生成的第一测试信号，并对所述第一测试信号进行发射通道性能测试，得到发射通道性能测试结果；通过所述接收通道接收外部信号，并由所述数字环路生成的第二测试信号，并对所述第二测试信号进行接收通道性能测试，得到接收通道性能测试结果；根据所述发射通道性能测试结果和所述接收通道性能测试结果，生成芯片收发测试结果。。来源：马 克 团 队