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基于计算机视觉的磁胶电感不规则外观缺陷检测方法

申请号: CN202311733742.0
申请人: 惠州市德立电子有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于计算机视觉的磁胶电感不规则外观缺陷检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311733742.0
申请日 2023/12/18
公告号 CN117437219A
公开日 2024/1/23
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 惠州市德立电子有限公司
发明人 黄汝林
地址 广东省惠州市博罗县罗阳镇洲际工业园梅园三路

摘要文本

本发明涉及图像数据处理技术领域,具体涉及基于计算机视觉的磁胶电感不规则外观缺陷检测方法。该方法获取磁胶电感外观的灰度图像;根据灰度值的分布,获取像素点的噪声程度值;根据噪声程度值,获取像素点的滤波概率值筛选出参考像素点;根据参考像素点的噪声程度值和滤波概率值,获取参考像素点的相似程度筛选出疑似噪声像素点;根据疑似噪声像素点的相似程度、灰度值和疑似噪声像素点的第一预设窗口中邻域像素点的噪声程度值,获取疑似噪声像素点的滤波权重进行去噪,获得去噪后的灰度图像进行缺陷检测,确定缺陷区域。本发明通过获取疑似噪声像素点的滤波权重,对灰度图像进行准确的去噪,去除了噪声的干扰,准确检测出缺陷区域。

专利主权项内容

1.一种基于计算机视觉的磁胶电感不规则外观缺陷检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获取磁胶电感外观的灰度图像;根据灰度图像中每个像素点的灰度值,获取高灰度值区间;构建灰度图像中每个像素点的第一预设窗口,根据高灰度值区间中的灰度值与灰度图像中每个像素点的灰度值差异,以及每个像素点的第一预设窗口中灰度值分布,获取灰度图像中每个像素点的噪声程度值;根据每个第一预设窗口中每个像素点的噪声程度值,获取灰度图像中每个像素点的滤波概率值;根据滤波概率值筛选出参考像素点;根据每个参考像素点与其他每个参考像素点对应的第一预设窗口中相同位置的像素点之间的噪声程度值的差异,以及每个参考像素点的滤波概率值,获取每个参考像素点的相似程度;根据相似程度筛选出疑似噪声像素点;根据每个疑似噪声像素点的相似程度、灰度值和每个疑似噪声像素点的第一预设窗口中邻域像素点的噪声程度值,以及其他疑似噪声像素点的第一预设窗口中邻域像素点的噪声程度值,获取每个疑似噪声像素点的滤波权重;根据所述滤波权重,对每个疑似噪声像素点进行去噪,获得去噪后的灰度图像进行缺陷检测,确定灰度图像中的缺陷区域。 关注公众号马克数据网