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具有3C晶型碳化硅的MOSFET及其制备方法、芯片

申请号: CN202311847729.8
申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 具有3C晶型碳化硅的MOSFET及其制备方法、芯片
专利类型 发明申请
申请号 CN202311847729.8
申请日 2023/12/29
公告号 CN117524883A
公开日 2024/2/6
IPC主分类号 H01L21/336
权利人 深圳天狼芯半导体有限公司
发明人 贺俊杰
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905

摘要文本

深圳天狼芯半导体有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请属于功率器件技术领域,提供了一种具有3C晶型碳化硅的MOSFET及其制备方法、芯片,其中,漏极层、N型衬底层以及N型漂移层层叠设置,且N型漂移层设置为凹形结构,通过在N型漂移层的凹槽内形成锗层然后以锗层作为缓冲层形成3C晶型的碳化硅材料,并通过向碳化硅材料中注入N型掺杂离子形成碳化硅漂移层,可以利用3C晶型的碳化硅材料提高器件的临界击穿电压,从而在保持击穿电压不变的情况下减小N型漂移区的厚度,实现降低器件导通电阻的目的。

专利主权项内容

1.一种具有3C晶型碳化硅的MOSFET的制备方法,其特征在于,所述具有3C晶型碳化硅的MOSFET的制备方法包括:在硅基底上外延生长硅材料并注入N型掺杂离子形成N型衬底,继续在所述N型衬底上外延沉积单晶硅材料形成单晶硅层,并注入N型掺杂离子形成N型漂移层;在所述N型漂移层上刻蚀形成第一沟槽以使所述N型漂移层为凹形,并在所述第一沟槽表面形成锗层;在所述第一沟槽内外延沉积3C晶型的碳化硅材料,并向所述碳化硅材料中注入N型掺杂离子形成碳化硅漂移层;其中,所述碳化硅漂移层与所述N型漂移层之间由所述锗层连接;通过离子注入工艺在所述N型漂移层两侧形成第一P柱、第二P柱,并在所述第一P柱上形成第一P型体区,在所述第二P柱上形成第二P型体区;在所述第一P型体区上形成第一N型源区,在所述第二P型体区上形成第二N型源区;在所述N型漂移层上以及所述第一P型体区、所述第二P型体区、所述第一N型源区、所述第二N型源区上的部分区域形成栅极介质层;在所述栅极介质层上形成栅极多晶硅,并继续形成栅极介质层,以包裹所述栅极多晶硅;形成与所述第一N型源区和所述第二N型源区接触的源极,并形成通过通孔与所述栅极多晶硅接触的栅极;在所述N型衬底的背面形成漏极。