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电子产品的电磁兼容抗扰度测试方法及系统

申请号: CN202311767136.0
申请人: 深圳信测标准技术服务股份有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 电子产品的电磁兼容抗扰度测试方法及系统
专利类型 发明授权
申请号 CN202311767136.0
申请日 2023/12/21
公告号 CN117434372B
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G01R31/00
权利人 深圳信测标准技术服务股份有限公司
发明人 吕杰中
地址 广东省深圳市南山区马家龙工业区69栋

摘要文本

深圳信测标准技术服务股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明涉及数据处理领域,公开了一种电子产品的电磁兼容抗扰度测试方法及系统,用于提高电子产品的电磁兼容抗扰度测试准确率。方法包括:基于目标测试环境确定电磁场强度分布区间,并对目标电子产品进行抗扰度测试和数据分析,得到目标抗扰度测试数据;对电磁场强度分布区间以及目标抗扰度测试数据进行关系建模,得到抗扰度关系数据模型;进行电子产品失效阈值识别,得到电子产品失效阈值;进行抗扰度累积退化量计算,得到抗扰度累积退化量;对电子产品失效阈值以及抗扰度累积退化量进行编码映射,生成目标抗扰度评价向量;将目标抗扰度评价向量输入预置的标准电磁性能模型进行电子产品电磁性能分析,得到目标抗扰度测试结果。

专利主权项内容

1.一种电子产品的电磁兼容抗扰度测试方法,其特征在于,所述电子产品的电磁兼容抗扰度测试方法包括:基于预置的目标测试环境确定电磁场强度分布区间,并对目标电子产品进行抗扰度测试和数据分析,得到目标抗扰度测试数据;对所述电磁场强度分布区间以及所述目标抗扰度测试数据进行关系建模,得到抗扰度关系数据模型;对所述抗扰度关系数据模型进行电子产品失效阈值识别,得到电子产品失效阈值;对所述抗扰度关系数据模型进行抗扰度累积退化量计算,得到抗扰度累积退化量;对所述电子产品失效阈值以及所述抗扰度累积退化量进行编码映射,生成目标抗扰度评价向量;将所述目标抗扰度评价向量输入预置的标准电磁性能模型进行电子产品电磁性能分析,得到所述目标电子产品的目标抗扰度测试结果。 数据由马 克 团 队整理