光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法

专利主权项内容

1.一种采用光纤绝缘子界面性能测试装置的界面性能评价方法，其特征在于，所述光纤绝缘子界面性能测试装置，包括局部泄漏电流测量模块及测试模块；所述局部泄漏电流测量模块包括平行设置在光纤绝缘子样品两端的高压端电极和低压端电极；所述高压端电极为黄铜圆板电极，尺寸大于所测光纤绝缘子样品截面积，所述低压端电极为从内到外由第一黄铜圆板、第二环氧树脂圆环、第三黄铜圆环、第四环氧树脂圆环、第五黄铜圆环同轴嵌套组合形成的电极；所述测试模块包含与所述局部泄漏电流测量模块串联的高压电源，与所述局部泄漏电流测量模块串联的保护电路，与所述保护电路串联的数据采集装置，并形成回路；所述测试模块还包含与所述数据采集装置单独连接的数据处理装置；其中所述高压电源用于给所述局部泄漏电流测量模块提供电压，所述数据采集装置用于采集所述高压电源的输出电压值与测试的泄漏电流值，所述保护电路用于保护所述数据采集装置采集的高压电源产生的过压和过流的影响，所述数据处理装置用于将采集的输出电压值以及测试的泄漏电流值进行处理与统计；所述方法包括如下步骤：S1、光纤绝缘子样品预处理：对光纤绝缘子进行加工，得到高度为30±0.5mm且上下两面平行的短圆柱光纤绝缘子，从所述短圆柱光纤绝缘子的不同部位的光纤界面处截取得到3~5个光纤绝缘子样品；S2、进行水煮老化试验：将所述光纤绝缘子样品表面进行消毒干净后置于水浴锅中沸煮，进行人工加速老化试验，模拟高湿热环境下样品的运行老化；在老化试验进行同时，不同时间段取出所述光纤绝缘子样品，冷却至室温备用；其中，所述不同时间段分别为0、50±0.5小时、100±0.5小时；S3、测量局部泄漏电流值：将所述光纤绝缘子样品放在所述局部泄漏电流测量模块的高压端电极和低压端电极之间，采用所述测试模块中的高压电源施加试验电压，后采用数据采集装置记录测试的泄漏电流值，然后降压至零；通过数据采集装置采集到流经所述光纤绝缘子样品的整体泄漏电流值，以及所述步骤S1取样的光纤界面处的局部泄漏电流值；其中，所述试验电压为12kV的试验电压，升压速率为1kV/s并保持1min±2s；所述数据采集装置记录5~10个周期的电信号数据；S4、绘制曲线：根据所述数据处理装置进行处理与统计的输出电压值以及泄漏电流值绘制输出电压值-泄漏电流值曲线以及泄漏电流值-时间曲线，得到光纤绝缘子的界面性能评价；其中，若100小时内泄漏电流值的有效值大于0.1mA且输出电压值-泄漏电流值相位差≤10°，则认为光纤绝缘子的界面性能不满足要求。。来自马-克-数-据-官网