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具有隔绝结构的超结MOSFET及其制备方法、芯片

申请号: CN202311846960.5
申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 具有隔绝结构的超结MOSFET及其制备方法、芯片
专利类型 发明申请
申请号 CN202311846960.5
申请日 2023/12/29
公告号 CN117497421A
公开日 2024/2/2
IPC主分类号 H01L21/336
权利人 深圳天狼芯半导体有限公司
发明人 贺俊杰
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905

摘要文本

深圳天狼芯半导体有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请属于功率器件技术领域,提供了一种具有隔绝结构的超结MOSFET及其制备方法、芯片,在N型漂移层的两侧分别形成第一P柱和第二P柱,用以提高器件的击穿电压,并在第一P型体区与第一P柱之间形成第一绝缘介质层,在第二P型体区与第二P柱之间形成第二绝缘介质层,从而在器件两侧形成隔绝结构,可以显著降低器件内体二极管的反向恢复电流,降低器件在电路中的功耗损失。

专利主权项内容

1.一种具有隔绝结构的超结MOSFET的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:在硅基底上外延生长并注入N型掺杂离子形成N型衬底;在所述N型衬底上外延沉积硅层,并通过离子注入工艺形成N型漂移层、第一P柱、第二P柱;其中,所述第一P柱和所述第二P柱分别形成于所述N型漂移层的两侧;在所述第一P柱上形成第一绝缘介质层,在所述第二P柱上形成第二绝缘介质层;继续外延沉积硅层,并通过离子注入在所述N型漂移层的两侧分别形成第一P型体区和第二P型体区;在所述第一P型体区上形成第一N型源区,在所述第二P型体区上形成第二N型源区;在所述N型漂移层上以及所述第一P型体区、所述第二P型体区、所述第一N型源区、所述第二N型源区上的部分区域形成栅极介质层;在所述栅极介质层上形成栅极多晶硅,并继续形成栅极介质层,以包裹所述栅极多晶硅;形成与所述第一N型源区和所述第二N型源区接触的源极,并形成通过通孔与所述栅极多晶硅接触的栅极;在所述N型衬底的背面形成漏极。